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电子显微镜分析

QUANTAX ED-XS

简单带来负担得起的科学

可靠和负担得起的EBSD

也可在桌面SEM

母亲是żniejsze informacje

完整的
分析能力
覆盖95%以上的应用程序bob平台靠谱吗
eFlash XS和XFlash 630M探测器完全集成在ESPRIT软件套件下
低
初始投资成本
EBSD适用于低占地面积和低成本的中小型企业
eFlash XS EBSD探测器可以安装在低占地面积和负担得起的sme上，而不会使它们变得不合理的昂贵
低
拥有成本
故障概率低，停机时间短
eFlash XS采用高可靠性CMOS摄像头。在非常不可能发生的相机故障的情况下，e-Flash XS探测器将在几天内更换为现场单元。

简单带来负担得起的科学

QUANTAX ED-XS是一种新颖独特的新产品包装eFlash XSEBSD检测器具有鲁棒性XFlash®下EDS检测器用途广泛思捷环球软件套件。这种硬件和软件的结合是一种新的方法，可以为更大的显微镜团体提供强大的分析工具，直到现在还没有提供EBSD功能。以下是它的好处:

  • 较低的初始投资成本
  • 停机时间很低:现场检测器更换在几天内
  • 负担得起的服务合同选项
  • 易使用EBSD:不需要校准和用户可更换屏幕
  • 安全操作:不使用时，与扫描电镜台或扫描电镜室内其他仪器发生意外碰撞的几率为0%
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Korzyści

为什么我需要EBSD在我的桌面或W-SEM?

  • 半自动粒度和形状分配
  • 用亚定形法定量分析显微组织
  • 变形晶粒与再结晶晶粒的面积/体积分数
  • 晶界的分析
  • 相位识别与分布分析
  • 化学和结晶学结果的相关性
  • 取向分布-晶体织构分析

Aplikacje

你的分析挑战是什么?

晶体定向地图

FE-SEM上eFlash XS的高空间分辨率EBSD映射

EBSD的空间分辨率受多种因素的影响，其中最主要的是样品的局部平均Z数、加速电压和电子束的探针尺寸。降低后两者会导致空间分辨率的显著提高，但也会导致信号产量的大幅下降。
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相分布图，红色为铁氧体相，绿色为奥氏体相;相比分别为39%和61%;映射时间:18:01min，地图大小:548000像素，零解:5.7%。没有应用数据清理!

不锈钢微观结构特征的表征

原金属和合金的机械性能是通过各种热-机械成形过程来控制的，例如在室温或高温下进行的轧制、锻造、挤压等。
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镍合金样品的晶体取向图，通过左上角的色标与样品表面法线相联系，显示每个晶粒的取向;采集速度:510帧/秒，零解:1.3%。没有应用数据清理!

工业合金晶粒统计量与各种性能的相关性

EBSD技术最重要的好处之一是输出可靠的晶粒统计数据，例如平均直径尺寸和分布，这可以与分析材料的各种性能相关，例如硬度、强度、塑性/成形性等。
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图案质量图与相位图重叠，红色为Si晶粒;为了最大限度地缩短对相类型和相数量未知的样品进行EBSD测量所需的时间，可以在不识别所有相的情况下进行采集;所有其他阶段都可以离线识别，在稍后的时间，并使用ESPRIT软件的极端重索引功能完成地图

相识别与分布分析

QUANTAX ED-XS是一款完全集成的EDS和EBSD系统，可以单独使用EDS或EBSD进行多种分析类型，也可以同时使用这两种技术。
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