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电子显微镜分析仪

QUANTAX ED-XS

简单带来负担得起的科学

可靠和可负担的EBSD

也可在桌面SEM

Lo más destacado

完整的
分析能力
覆盖95%以上的应用程序bob平台靠谱吗
eFlash XS和XFlash 630M探测器完全集成在ESPRIT软件套件下
低
初始投资成本
EBSD适用于低占地面积和低成本的中小型企业
eFlash XS EBSD检测器可以安装在低占地面积和经济实惠的sem上，而不会使它们变得不合理昂贵
低
拥有成本
故障概率低，停机时间短
eFlash XS采用高可靠性CMOS摄像头。在不太可能发生相机故障的情况下，e-Flash XS探测器将在几天内被现场单元替换。

简单带来负担得起的科学

QUANTAX ED-XS是一个全新的产品包，结合了新的和独特的eFlash XSEBSD检测器具有鲁棒性XFlash®EDS检测仪下通用思捷环球软件套件。这种硬件和软件的组合是一种新的方法，可以为更大的显微镜社区提供强大的分析工具，直到现在还没有提供EBSD功能。它的好处如下:

  • 较低的初始投资成本
  • 停机时间极低:几天内即可更换现场检测器
  • 负担得起的服务合同选项
  • 易于使用EBSD:无需校准&用户可更换的屏幕
  • 操作安全:不使用时，与扫描电镜台或扫描电镜腔内其他仪器发生意外碰撞的几率为0%
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锻炼耐力

为什么我需要EBSD在我的桌面或W-SEM?

  • 半自动粒度形状分配
  • 用亚定形法定量分析显微组织
  • 变形晶粒与再结晶晶粒的面积/体积分数
  • 晶界分析
  • 相识别和分布分析
  • 化学和结晶学结果的相关性
  • 取向分布-晶体织构分析

Aplicaciones

你的分析挑战是什么?

晶体方位图

在FE-SEM上映射eFlash XS的高空间分辨率EBSD

EBSD的空间分辨率受多种因素的影响，最重要的是:样品的局部平均Z数、加速电压和电子束探针尺寸。降低后两者会导致空间分辨率的显著提高，但也会导致信号产量的大幅下降。
送秋波马斯
相分布图，红色为铁素体相，绿色为奥氏体相;相比分别为39%和61%;测绘时间:18:01min，地图尺寸:548000像素，零解:5.7%。没有应用数据清洗!

不锈钢显微组织特征的表征

原料金属和合金的机械性能是通过各种热机械成形工艺来控制的，例如在室温或高温下进行的轧制、锻造、挤压等。
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镍合金样品的晶体取向图，通过左上角描述的颜色代码与样品表面法线相关联，显示每个晶粒的取向;采集速度:510帧/秒，零解:1.3%。没有应用数据清洗!

工业合金晶粒统计量与各种性能的相关性

EBSD技术最重要的好处之一是输出可靠的晶粒统计数据，例如平均直径大小和分布，这可以与所分析材料的各种性能相关联，例如硬度、强度、塑性/可成形性等。
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图案质量图与相位图重叠，红色为Si晶粒;为了最大限度地缩短在类型和数量未知的样品上设置EBSD测量所需的时间，可以在不识别所有相的情况下启动采集;所有其他阶段都可以在稍后的时间离线识别，并使用ESPRIT软件的超强重新索引功能完成地图

相识别与分布分析

QUANTAX ED-XS是一个完全集成的EDS和EBSD系统，可以使用EDS或EBSD单独或同时使用这两种技术进行广泛的分析类型。
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