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电子显微镜分析

QUANTAX ED-XS

简单带来实惠的科学

可靠和可负担的EBSD

也可在桌面上的SEM

e-Flash_XS_Heroshot_Invert_w10

Punti salienti

完整的
分析能力
覆盖95%以上的应用bob平台靠谱吗
eFlash XS和XFlash 630M探测器完全集成在ESPRIT软件套件下
低
初始投资成本
用于低占用空间和低成本sme的EBSD
eFlash XS EBSD检测器可以安装在低占用空间和负担得起的sem上，而不会使它们变得不合理的昂贵
低
拥有成本
低故障概率和低停机时间
eFlash XS由高可靠性CMOS摄像头供电。在非常不可能的情况下，相机故障，e-Flash XS探测器将在几天内更换为现场单元。

简单带来实惠的科学

QUANTAX ED-XS是一个全新的产品包，结合了新的和独特的eFlash XS具有健壮性的EBSD检测器XFlash®下的EDS探测器多才多艺思捷环球软件套件。这种硬件和软件的结合是一种新的方法，可以为更大范围的显微镜社区提供强大的分析工具，而目前为止还没有提供EBSD功能。以下是它的好处:

  • 较低的初始投资成本
  • 非常低的停机时间:现场探测器更换在几天内
  • 可负担得起的服务合同选项
  • 易于使用的EBSD:无需校准和用户可更换的屏幕
  • 操作安全:不使用时，与SEM台或SEM室内其他仪器发生意外碰撞的几率为0%
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为什么我需要在我的桌面或W-SEM上安装EBSD ?

  • 半自动粒度及形状分配
  • 利用亚群法定量分析微观结构
  • 变形晶粒与再结晶晶粒的面积/体积分数
  • 晶界的分析
  • 相位识别和分布分析
  • 化学和结晶学结果的相关性
  • 取向分布-晶体结构分析

Applicazioni

你的分析挑战是什么?

晶体定向地图

在FE-SEM上绘制eFlash XS的高空间分辨率EBSD

EBSD的空间分辨率受多个因素的影响，其中最重要的是样品的局部平均Z数、加速电压和电子束的探针尺寸。降低后两者可以显著提高空间分辨率，但也会导致信号产量的大幅下降。
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相分布图显示铁素体相为红色，奥氏体相为绿色;相比分别为39%和61%;映射时间:18:01分钟，地图大小:54.8万像素，零解:5.7%。没有数据清理应用!

不锈钢显微组织特征的表征

原料金属和合金的机械性能是通过各种热机械成形工艺来控制的，例如在室温或高温下进行轧制、锻造、挤压等。
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镍合金样品晶体取向图，将左上角的色标与样品表面法线相关联，显示各晶粒的取向;采集速度:510frames/sec，零分辨率:1.3%。没有数据清理应用!

工业合金晶粒统计量与各种性能的相关性

EBSD技术最重要的好处之一是输出可靠的晶粒统计数据，如平均直径大小和分布，可以与分析材料的各种性能相关，如硬度、强度、塑性/成形性等。
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图质量图与相图重叠，显示红色的Si晶粒;为尽量减少在未知阶段类型和数目的样本上设置EBSD测量所需的时间，可在不确定所有阶段的情况下进行采集;所有其他阶段都可以离线识别，然后使用ESPRIT软件强大的重新索引功能完成地图

相位识别与分布分析

QUANTAX ED-XS是一款完全集成的EDS和EBSD系统，可以单独使用EDS或EBSD进行多种分析，也可以同时使用这两种技术。
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