eflash xs

显着增加了能够获取的实验室数量集成的EDS和EBSD系统，Bbob电竞安全吗ruker Nano Analytics开发了Eflash XS，这是一个独特的EBSD检测器，专门用于SEM市场的负担得起部分。EFLASH XS EBSD检测器有意安装在低足迹SEMS上，例如带有小室的桌面SEMS和标准SEMS。

我们的EBSD专业知识已经为开发有史以来最可靠和最负担得起的EBSD探测器而获得专业知识，同时提供出色的性能。Eflash XS设计为最大的可靠性，易用性和图案质量，由Binning CMOS摄像机，创新的光学系统提供动力，可最大程度地发射光线和高性能用户更替代的磷光器屏幕。它的USB3.0计算机连接（Power＆Data）使Eflash XS成为真正的插头N播放仪器。当不使用时，EBSD检测器的SEM部分滑动以进行外部存储，以消除SEM阶段与检测器相撞的任何风险。

新的Eflash XS EBSD检测器与第六代Xflash集成了^®EDS检测器ESPRIT 2软件创建Quantax ED-XS，用于入门级SEM市场的分析技术的强大组合。

主要好处（硬件和软件）

使用方便

• 无需校准 - WD变化对模式中心的影响会自动纠正
• 不需要binning/模式分辨率更改；如果需要
• 自动相机增益
• 自动化水晶相设置 - 无需用户干预
• 没有意外EBSD探测器插入阶段的风险
• 可取代的磷光屏幕
• 包括独立和同时收购EDS HyperMAP和EBSD地图
• 自动数据节省
• 地图获取结束时的自动EHT关闭是可以选择的

可以对新用户进行培训，并练习EDS＆EBSD，并且时间限制更少

可以在EBSD会话之前检查样品准备质量

在负担得起的SEMS上运行常规EBSD分析以减少FE-SEM积压

重要规格

• 本地图像分辨率：720 x 540像素
  
• 支持的binning模式：2x2，3x3，4x4，5x5，6x6
• 速度：525帧/秒（FPS）
• 用户可移动的探测器头 - 滑入和输出机制
• 可取代的磷光屏幕
• EBSD数据和电力传输通过USB3.0电缆（无需其他电缆或盒子）
• 外部尺寸：长度〜84毫米，直径〜48毫米