新!无窗高收集角EDS探测器与100毫米²椭圆形硅漂移探测器面积

我们宣布发布一种新的大收集角EDS探测器，其椭圆形SDD面积为100 mm2，即XFlash^®6 t - 100椭圆形用于TEM, STEM和XFlash^®6 - 100椭圆的SEM和T-SEM。

本次网络研讨会将介绍探测器的特点，显微镜探测器几何形状的细节以及各自的数据采集和分析。将解释不同大收集角EDS设置的定性和定量元素映射(图1,2)，并与标准EDS获得的结果相关。

该探测器在TEM/STEM上12°左右的高起飞角度下提供0.4 sr至0.7 sr的收集角，在SEM上可提供高达0.4 sr的收集角。与显微镜制造商合作，对每一种特定显微镜类型的极片探测器几何结构进行优化。这可以在纳米尺度上快速和常规的元素映射，而不影响显微镜性能，适当的电子探针质量和样品制备。在STEM原子柱中，EDS(图3，[1])以及单原子识别[2]成为可能。

[1]室温多铁材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定L. Keeney等人，科学报告7，文章编号:1737(2017)，开放获取

[２]单杂原子的x射线光谱鉴定R. M. Stroud等人，APL 108, 163101(2016)，开放获取

• 来自工业界和学术界的科学家和应用科学家在显微镜和无机和有机材料的表征方面工作
• 对TEM和STEM中高效、快速、高空间分辨率的高端能谱仪感兴趣
• 对电子透明样品的标准能谱分析感兴趣