新的！无窗的高收集角度EDS检测器，带有100mm²椭圆形硅漂移检测器区域

我们宣布释放新的大型收集角EDS检测器，其椭圆形SDD面积为100 mm2，Xflash^®6T-100椭圆形对于TEM和STEM以及Xflash^®6-100SEM和T-SEM的椭圆形。

该网络研讨会将告知检测器特征，显微镜检测器几何形状的细节以及各自的数据获取和分析。将解释不同大收集角EDS设置的定性和定量元素映射（图1、2），并与标准EDS获得的结果相关。

检测器已显示出在TEM/stem上的12°约12°和SEM上的收集角度最高为0.4 SR的高起飞角度，可在0.4 SR至0.7 SR之间提供收集角。与显微镜制造商合作，针对每种特定显微镜类型优化了探测器几何形状。这可以在不损害显微镜性能，合适的电子探针质量和提供的标本制备的情况下，在纳米尺度上快速和常规的元素映射。在茎原子柱中（图3，[1]）以及单个原子识别[2]。

[1]直接原子尺度测定室温多效材料中磁离子分区L. Keeney等人，科学报告7，文章编号：1737（2017），开放访问

[2]X射线光谱学的单个杂原子鉴定R. M. Stroud等人，APL 108，163101（2016），开放访问

• 来自工业和学术界的科学家和应用科学家在显微镜上工作以及无机和有机材料的表征
• 对TEM和STEM中有效的快速高空间分辨率高端EDS感兴趣
• 对电子透明标本的标准ED感兴趣