新!无窗高收集角EDS探测器，100毫米²椭圆形硅漂移探测器区域

我们宣布发布一种新的大收集角EDS探测器，其椭圆形SDD面积为100 mm2XFlash^®6 t - 100椭圆形TEM, STEM和XFlash^®6 - 100椭圆形为扫描电镜和t -扫描电镜。

本次网络研讨会将介绍探测器的特点，显微镜探测器几何形状的细节以及各自的数据采集和分析。将解释不同大收集角EDS设置的定性和定量元素映射(图1,2)，并与标准EDS获得的结果相关。

该探测器在TEM/STEM上大约12°的高起飞角下提供0.4 sr到0.7 sr的收集角度，在SEM上提供高达0.4 sr的收集角度。极片到探测器的几何形状是与显微镜制造商合作，针对每种特定的显微镜类型进行优化。这使得在纳米尺度上能够快速和常规的元素映射，而不影响显微镜的性能，适当的电子探针质量和样品制备。在STEM原子柱中，EDS(图3，[1])和单原子识别[2]成为可能。

[1]室温多铁材料中磁性离子隔断的直接原子尺度测定L. Keeney等人，科学报告7，文章号:1737(2017)，开放获取

[２]用x射线光谱学鉴别单个杂原子R. M. Stroud等人，APL 108, 163101(2016)，开放获取

• 来自工业和学术界的科学家和应用科学家在显微镜和无机和有机材料的表征方面工作
• 对TEM和STEM中高效、快速、高空间分辨率高端EDS感兴趣
• 对电子透明样品的标准EDS感兴趣