DIFFRAC。LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了有关垂直样品密度剖面、层厚和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量了样品的晶体结构。采用掠入射小角散射(GISAXS)技术对纳米颗粒和孔隙度进行评价。残余应力分析研究了大体积样品和多晶涂层的应变状态。

与传统的单曲线扫描一样，LEPTOS能够分析高分辨率HRXRD和XRR的倒数空间图，gisax和XRD²应力帧，HRXRD, XRR和残余应力应用的区域映射。bob平台靠谱吗数据是用0-D、1-D还是2-D探测器收集的并不重要。
用户界面可以根据科研人员和工业操作者的需求进行定制。

• 多项XRR、HRXRD、gisax和RS测量的联合评价
• 先进的x射线散射理论和数值方法的估计，模拟和拟合的数据在直接和倒数空间
• 自然集成处理点、线、二维探测器测量的一、二维数据集
• 通用样品模型编辑器参数化任何类型的薄膜和散装样品
• 全面和可扩展的材料数据库，涵盖所有230个晶体学空间群
• 区域映射工具，用于显示和评估在大样本区域执行的测量
• 用于一维和二维残余应力分析的先进sin²ψ法，以及用于评价多晶涂层应力梯度的多重(hkl)法

LEPTOS R设计用于分析薄层结构的x射线反射率(XRR)数据和非镜面漫反射散射(DS)。该模块完全集成在LEPTOS套件中，包括HRXRD、gisax和XRR数据的同时分析。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个包的所有通用功能。

LEPTOS R在包括VAMAS A10项目在内的多个国际基准测试中都获得了很高的评价。LEPTOS R的结构符合国际最新制定的XRR数据格式rfCIF标准。

LEPTOS S是一个创新、强大和全面的模块，用于分析0D、1D或2D探测器测量的残余应力，使用经典的sin2ψ和扩展XRD2方法。该模块完全集成在LEPTOS套件中，并继承整个包的所有通用功能。