x선(xrr)은은밀도프로파일프로파일프로파일프로파일프로파일및인터페이스거칠기에자세한정보를합니다합니다합니다합니다합니다。고해상도x선(hrxrd)은은의를측정합니다합니다합니다。방목발생(Gisaxs)은은입자평가를사용됩니다됩니다。잔류응력벌크및다코팅의상태를합니다합니다합니다。
leptos는기존커브스캔과고해상도고해상도고해상도및및xrr xrr상호맵맵맵맵맵맵맵맵맵맵맵및및및및및데이터가0-D,1-d또는2d검출기검출기수집는하지않습니다않습니다。
gui는연구자산업운영자의요구을하기위해정의할할수있습니다。
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leptosh는x x발생x x x발생회절분석의미합니다합니다합니다합니다합니다。
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leptos g는영역에된를하는샘플측정측정시료표면에에위치한방목방목발생소각산란산란산란산란데이터데이터평가합니다합니다。이들은들어,매장또는반도체및,다공성,응축,응축,폴리분말,폴리폴리나노나노입자등등에내장된된등등등이있습니다있습니다있습니다있습니다모듈g용x x에는반사도대한대한대한됩니다됩니다。
버전 | 현재현재소프트웨어은v7.10.12입니다。 |
분석방법 |
역동적파라트의형식주의 얼굴간거칠기의다양성 x선산란계산을방법방법 특허받은eigenwaves(mew) 2x2및한한한한한재귀재귀재귀매트릭스주의주의 sin2θ뿐아니라아니라xrd2방법방법방법확장된 여러{hkl}의의평가} 얇은다/변형/변형변형 |
운영체제 |
窗口8과10(32비트또는64비트) |