DIFFRAC。LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了垂直样品密度剖面、层厚度和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量样品的晶体结构。用掠入射小角散射法(GISAXS)评价纳米粒子及其孔隙度。残余应力分析用于检测本体试样和多晶涂层的应变状态。

与传统的单曲线扫描一样，LEPTOS能够分析高分辨率的HRXRD和XRR互反空间图，GISAXS和XRD²应力框架，HRXRD、XRR和残余应力应用的面积映射。bob平台靠谱吗数据是用0-D、1-D还是2-D探测器收集的并不重要。
GUI可以定制以适应科学研究人员和工业运营商的要求。

• 多种XRR、HRXRD、GISAXS、RS测量联合评价
• 先进的x射线散射理论和数值方法估计，模拟和拟合数据在直接和倒数空间
• 通过点，线和二维探测器测量的1-和二维数据集的自然集成处理
• 通用样品模型编辑器参数化任何类型的薄膜和散装样品
• 覆盖全部230个晶体空间组的全面和可扩展的材料数据库
• 区域映射工具，用于显示和评估大型样本区域的测量
• 高级Sin²51-D和2-D数据的残余应力分析方法，以及评估多晶涂层中应力梯度的多种（HKL）方法

Leptos R专为分析来自薄层结构的X射线反射率（XRR）数据和离镜面漫射散射（DS）的分析。该模块完全集成在Leptos套件中，该套件包含HRXRD，GISAX和XRR数据的同时分析。作为Leptos套件的一部分，R模块继承了整个包装的所有功能。

Leptos R在几个国际基准中得到高度评价，包括VAMAS项目A10。Leptos R的结构符合新开发的国际RFCIF标准，用于XRR数据的数据格式。

Leptos S是一种创新，强大而全面的模块，用于通过使用经典的SIN21和扩展XRD2方法分析由0D，1D或2D探测器测量的残余应力。该模块完全集成在Leptos套件中，继承整个包装的所有功能。