DIFFRAC。LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了垂直样品密度剖面、层厚度和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量样品的晶体结构。用掠入射小角散射法(GISAXS)评价纳米粒子及其孔隙度。残余应力分析用于检测本体试样和多晶涂层的应变状态。

与传统的单曲线扫描一样，LEPTOS能够分析高分辨率的HRXRD和XRR互反空间图，GISAXS和XRD²应力框架，HRXRD、XRR和残余应力应用的面积映射。bob平台靠谱吗数据是用0-D、1-D还是2-D探测器收集的并不重要。
可以对GUI进行定制，以满足科研人员和工业操作人员的需求。

• 多种XRR、HRXRD、GISAXS、RS测量联合评价
• 先进的x射线散射理论和数值方法估计，模拟和拟合数据在直接和倒数空间
• 自然地集成处理由点、线和二维探测器测量的一维和二维数据集
• 通用样品模型编辑器参数化任何类型的薄膜和散装样品
• 涵盖所有230个晶体空间群的全面和可扩展的材料数据库
• 区域映射工具，用于显示和评估在大样本区域执行的测量
• 改进了一维和二维数据残余应力分析的sin²ψ法，以及评价多晶涂层应力梯度的多重(hkl)法

LEPTOS R是专为分析x射线反射率(XRR)数据和非镜面漫反射散射(DS)的薄层结构。该模块完全集成在LEPTOS套件中，包括HRXRD、GISAXS和XRR数据的同时分析。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个包的所有通用功能。

LEPTOS R在几个国际基准中得到了很高的评价，包括VAMAS项目A10。LEPTOS R的结构符合新开发的XRR数据格式的国际rcif标准。

LEPTOS S是一个创新的、强大的和全面的模块，用于分析由0D、1D或2D探测器测量的残余应力，使用经典的sin2ψ和扩展的XRD2方法。该模块完全集成在LEPTOS套件中，并继承了整个包的所有通用功能。