diffrac.leptos

X射线反射率（XRR）提供了有关垂直样品密度曲线，层厚度和接口粗糙度的详细信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）测量样品的晶体结构。放牧的含量小角度散射（GISAXS）用于评估纳米粒子和孔隙率。残余应力分析探测大量样品和多晶涂层的应变状态。

除了常规的单曲线扫描外，Leptos还可以分析高分辨率HRXRD和XRR相互空间图，GISAXS和XRD²应力框架，HRXRD，XRR和残留应力应用的面积映射。bob平台靠谱吗使用0-D，1-D还是2-D检测器收集数据都没关系。
可以定制GUI以适应科学研究人员和工业运营商的要求。

• 多个XRR，HRXRD，GISAXS和RS测量的联合评估
• 高级X射线散射理论和数值方法，用于直接和相互空间中数据的估计和拟合
• 按点，线和二维检测器测量的1和二维数据集的自然集成处理
• 通用样品模型编辑器，用于参数化任何类型的薄膜和大量样品
• 全面且可扩展的材料数据库涵盖了所有230个晶体学空间组
• 用于显示和评估在大型样品区域执行的测量的区域映射工具
• 高级SIN²ψ方法用于1-D和2-D数据的残余应力分析，以及评估多晶涂层中应力梯度的多重（HKL）方法

Leptos R的设计用于分析X射线反射率（XRR）数据和薄层结构的特定分散散射（DS）。该模块完全集成在Leptos Suite中，该套件同时分析了HRXRD，GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个软件包中常见的所有功能。

Leptos R在包括VAMAS项目A10在内的几个国际基准中得到了高度评​​价。Leptos R的结构符合新开发的XRR数据数据格式的国际RFCIF标准。

Leptos S是通过使用经典SIN2ψ和扩展的XRD2方法来分析通过0D，1D或2D检测器测量的残余应力的创新，强大且全面的模块。该模块已完全集成在Leptos Suite中，并继承了整个软件包中常见的所有功能。