M1米斯特拉尔
紧凑型台式Micro-XRF光谱仪
散装材料和涂料
有成本效益的行动
母亲是żniejsze informacje
100μm
最小光斑大小
甚至可以解决电路板上的精细结构细节
2 nm-60µm
多元素层分析的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497，具有挑战性的层厚度和成分分析;包括具有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
Zn中Cu，Zn的检测限制或Zn中的Pb
RoHS筛选，分析焊料，塑料，金属合金中的微量元素;在材料厚度上自动校正，PCB组件上的精确测量点定位
一种小型多用途台式微型xrf光谱仪
关键因素
- 灵活的仪器
- 易于操作
- 人性化的触摸屏界面
- 访问原始数据
M1 MISTRAL是一款紧凑的台式能量色散微xrf分析仪，用于多用途。M1 MISTRAL易于操作，专为工业环境中快速和经济高效的操作而设计，可提供有关贵金属合金等材料的元素组成和层厚以及多层结构的准确信息。
散装和涂层根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497进行分析。通过Rh靶激发，可以实现对化学沉积磷酸镍(NiP)涂层的高精度分析。
所有珠宝合金、铂族金属或银的确切成分可以在一分钟内测定出来。结果可以以重量%或克拉为单位输出。
分析可以执行无标准或基于标准，以达到更高的准确性水平。每种应用都有各种各样的校准。
从定位样本到打印结果在一个报告-完整的工作流程集成在软件中。同时，原始数据的开放访问也保证了完全的透明度。
Korzyści.
M1 MISTRAL的好处
各种各样的元素可以不破坏性地测量。不需要样品制备。即使是复杂的分析任务也可以使用可编程XYZ阶段自动化，并从单击单击开始。超快速检测系统提供快速的结果。
M1 MISTRAL配备了一个大面积硅漂移检测器(SDD)，具有卓越的计数率性能和能量分辨率，将检测限制降到ppm水平。高性能探测器，数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效的x射线检测，因此快速和准确的分析结果。
M1 Mistral的易于使用和免维护设计和强大的分析软件套件允许操作甚至由只收到简要培训的人员。不需要耗材或气体。坚固的结构确保最高的稳定性和免维护操作。
Aplikacje
Specyfikacje
技术细节
激 |
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最大限度。样品大小和重量 |
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探测器 |
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马克西。阶段旅游范围 |
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元素范围广 |
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仪器尺寸（W X D X H） |
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| x光光斑大小 |
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Oprogramowanie
XSpect Pro分析软件套件
- 仪器控制，数据采集和管理
- 用户可选择的触摸屏界面
- 舞台控制和编程
- 金属多层膜的厚度和成分分析
- 定量成分分析，无标准和基于标准的实证模型
- 具有自动峰值识别功能的频谱仪
- 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
- 报告生成器
- 结果存档
