M1米斯特拉尔
小型台式微型xrf光谱仪
散装材料和涂料
有成本效益的行动
突出了
100µm
最小光斑大小
甚至可以解决电路板的精细结构细节
2 nm-60µm
用于分析多个多元素层的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497对层厚和成分进行挑战性分析;包含具有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中铜、锌或锌中铅的检测限度
焊料、塑料、金属合金中微量元素的RoHS筛选、分析;对材料厚度的自动校正，PCB组件的精确测量点位定位
一种紧凑的多用途台式微型xrf光谱仪
关键因素
- 灵活的仪器
- 操作方便
- 用户友好的触摸屏界面
- 获取原始数据
M1 MISTRAL是一款紧凑的台式能量分散微xrf分析仪，用于多用途。M1 MISTRAL易于操作，设计用于工业环境中快速和经济高效的操作，提供关于材料的元素组成和层厚的准确信息，如贵金属合金和多层结构。
体积和涂层根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497进行分析。在铑靶激发下，化学沉积磷酸镍(NiP)镀层的分析可以达到较高的精度。
所有珠宝合金、铂族金属或银的确切成分都可以在不到一分钟的时间内测定出来。结果可以输出重量-%或克拉。
分析可以进行无标准的或基于标准的，以达到更高的精度水平。各种各样的校准可用于每个应用。
从定位样本到在报告中打印结果-完整的工作流程集成在软件中。同时，对原始数据的开放获取保证了充分的透明度。
好处
M1 MISTRAL的好处
各种各样的元素都可以进行无损测量。不需要样品制备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程的XYZ阶段实现自动化，并且只需点击一次鼠标就可以开始。超快速检测系统提供快速结果。
M1 MISTRAL配备大面积硅漂移探测器(SDD)，具有优越的计数率性能和能量分辨率，可将检测极限降低到ppm水平。高性能探测器，数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效率的x射线检测，因此快速和准确的分析结果。
M1 MISTRAL的易于使用和免维护的设计和强大的分析软件套件甚至允许只接受过简短培训的人员操作。不需要消耗品或气体。坚固的结构确保最高的稳定性和免维护操作。
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规范
技术细节
激 |
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Max。样本大小和重量 |
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探测器 |
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马克西。阶段旅游范围 |
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元素种类繁多 |
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仪器尺寸(宽×深×高) |
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| x光光斑大小 |
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软件
XSpect Pro分析软件套件
- 仪器控制，数据采集和管理
- 用户可选择触摸屏界面
- 舞台控制与编程
- 金属多层膜的层厚和成分分析
- 定量成分分析，无标准和基于标准的经验模型
- 具有自动峰值识别的频谱查看器
- 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
- 报告生成器
- 结果存档
