Micro-XRF Spektrometer

M1米斯特拉尔

Ein kompaktes microro - rfa Spektrometer für Ihren Labortisch

基板,材料-zusammensetzung和Schichtdicken

Kosteneffiziente Materialanalyse

M1米斯特拉尔Micro-XRF

突出了

100µm
Kleinste Spotgroße
Sogar feine Strukturdetails auf Leiterplatten können aufgelöst werden
2 nm - 60 μ m
贝雷里奇für die冯·迈赫伦多元素schichten分析
Anspruchsvolle分析材料ASTM B568;selbst wenn element in mehrenschichten vorkommen, programmierbare multipoint - analysis für sich wiederholende Aufgaben
8 ppm
Nachweisgrenzen für聚合体中的铜、锌比锌中的铅好
RoHS-Prüfung,分析von Spurenelementen在Lötzinn, Kunststoffen/Polymeren, Metalllegierungen;自动化Korrektur der Materialdicke, exakte messpunktpositioniung auf elektronischen Bauteilen and Leiterkarten

Ein kompaktes微x射线荧光光谱仪für viele Anwendungen

Haupteigenschaften

  • 灵活的仪器
  • Einfach祖茂堂bedienen
  • Benutzerfreundliche Touchscreen-Oberflache
  • Zugriff Rohdaten汪汪汪

Das M1 MISTRAL ist in kompaktes,能量分散剂微x射线荧光光谱仪mit einem vielseitigen Einsatzbereich。Es ist für den schnellen und kosten-günstigen Betrieb in einer industrial ellen Umgebung konzipiert und einfach zu bedienen。Das M1 MISTRAL liefert präzise Informationen über die Zusammen-setzung und Schichtdicke von Materialien, wie z.B. Edelmetalllegierungen oder Strukturen mit mehrenen Schichten。

衬底根据贝希奇通根werden nach der astm规范B568和europäischen规范ISO 3497分析仪。德国镍化学分析(英文)“无电解沉积磷酸镍(NiP)涂层”

我是布吕赫特尔·艾纳,我是一分钟的时间,我是一分钟的时间,我是一分钟的时间,我是一分钟的时间。Die Ergebnisse können entweder in Gewicht-% oder in Karat ausgegeben werden。

Die Analyse kann standardlos oder standardbasiert durchgeführt werden, um eine noch höhere Genauigkeit zu erreichen。Für jede Anwendung steht eine große Vielfalt an Kalibrierungen zur Verfügung。

Von der Positionierung der Probe bis zum Druck der Ergebnisse in einem Bericht ist der vollständige Arbeitsablauf in die Software integrert。格莱希泽蒂格,狂野,狂野,透明,粗野,冒犯,祖冈,粗野,罗赫达滕gewährleistet。

Vorteile

涡旋M1西北风

Eine Vielzahl von Elementen kann zerstörungsfrei gemessen werden。Eine Probenvorbereitung ist nicht erforderlich。Auch复合分析系统Aufgaben können XYZ-Stufe自动程序和mit einem einzigen Mausklick gestartet werden。Ultraschnelle Erkennungssysteme liefern schnelle Ergebnisse。

Das M1 MISTRAL ist mit einem großen硅漂移探测器(SDD) ausgestattet, der durch seine überlegene Zählrate und Energieauflösung Detektionsgrenzen sogar im pm- bereich ermöglicht。混合的霍赫列斯滕探测器,数字脉冲和优化的几何图形的奇异的形状和效率für模具检测Röntgenquanten erreicht,伍德赫西的schnelle和präzise Ergebnisse erhalten。

在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人,在这个世界上最伟大的人。Weder zusätzliches气体noch Verbrauchsmaterialien sind erforderlich。Die robuste Konstruktion sorgt für höchste Stabilität。

Spezifikationen

技术细节

Anregung

  • Mikrofokus Röntgenröhre mit W- oder rh -阳极
Max。Probengroße &重量
  • 48厘米× 49厘米× 20厘米
  • bis 1 8公斤

Detektor

  • Peltier gekühlt, 30毫米²hochleistungs -硅漂移探测器,
  • Energieauflösung <150 eV für Mn Kα
Scanbereich
  • 200毫米× 175毫米× 80毫米(mit motorisiertem XYZ-Probentisch und EasyLoad-Funktion)

Analysebereich

  • 标准:ab Ti (Z=22) mit w -阳极
  • 可选:ab Al (Z=13) mit rh -阳极
仪器(B x T x H)
  • 550毫米× 680毫米× 430毫米
Kollimator
  • Kollimatorwechsler für 1.0 mm bis 1.5 mm

软件

XSpect Pro Analysesoftware

  • 仪器steuerung, Datenerfassung和管理
  • Optionale Touchscreen-Oberflache
  • Probentisch-Steuerung和Programmierung
  • 分析“Schichtdicke und -zusammensetzung von metallischen mehrschht - strukturen”
  • 物质的定量分析,标准的损失和标准的基础经验模型
  • Darstellung von spektrent mit自动峰识别
  • 统计数据für统计数据(SPC)
  • Berichts-Generator
  • Ergebnisarchiv

新闻和事件