Micro-XRF光谱仪

M1米斯特拉尔

小型台式micro-XRF光谱仪

散装材料和涂料

有成本效益的行动

做marquants

100年µm
最小光斑大小
甚至可以解决精细结构细节电路板
2 nm-60µm
多个multi-element-layers厚度范围的分析
挑战层厚度和组成的分析根据ASTM B568和ISO 3497;包括与重复元素层;可编程多点分析
8 ppm
限制的检测铜、锌在聚合物或锌铅
RoHS检测、分析微量元素的焊料,塑料,金属合金;材料厚度自动校正,精确测量位置定位在PCB组件

一个紧凑的多功能台式micro-XRF光谱仪

关键因素

  • 灵活的仪器
  • 操作方便
  • 用户友好的触摸屏界面
  • 获取原始数据

M1米斯特拉尔是多功能的小型台式micro-XRF能谱分析仪使用。操作方便,为快速设计和有成本效益的操作在工业环境中,M1米斯特拉尔提供准确的信息材料的元素组成和层厚度等贵重金属合金以及多层结构。

分析了散装和涂料根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497。可以实现高精度的分析化学沉积镍磷(夹)涂料通过Rh目标激励。

所有珠宝的确切成分合金、铂族金属、或银可以确定在一分钟的一小部分。结果可以输出在重量%或克拉。

分析可以执行standardless或基于标准达到更高水平的准确性。一个伟大的各个校准为每个应用程序可用。

从样本印刷定位结果在一份报告中,完整的工作流集成在软件。在同一时间全部transperency保证开放获取的原始数据。

优点之一

M1米斯特拉尔的好处

各种各样的元素可以测量非破坏地。不需要样品制备。甚至可以实现复杂的分析任务自动化的可编程XYZ阶段,开始与一个单一的点击鼠标。超快的检测系统提供快速的结果。

M1米斯特拉尔有大面积硅漂移探测器(SDD)优越的计数率的性能和能量分辨率驱动器检测极限ppm水平。高性能探测器,数字脉冲处理和优化几何条件导致高效x射线检测,因此快速、准确的分析结果。

M1的易于使用的免维护设计米斯特拉尔甚至强大的分析软件套件允许操作人员收到只有简短的培训。不需要消耗品或气体。结构坚固,确保最高的稳定性和不需维护的操作。

规范

技术细节

  • 高性能微焦点管与W或Rh的目标
Max。样品尺寸和重量
  • 48 x49x20厘米³
  • 1.8公斤

探测器

  • 珀尔帖冷却,30毫米²高性能硅漂移探测器,< 150 Mn Ka电动汽车能量分辨率
马克西。阶段旅游范围
  • 200 mm x 175 mm x 80 mm(机动XYZ阶段自动对焦和EasyLoad函数)

广泛的元素

  • 默认值:与W Ti (Z = 22)的目标
  • 可选的:从艾尔(Z = 13)与Rh的目标
仪器维度(W x D H)
  • 550 mm x 680 mm x 430 mm
x光光斑大小
  • 准直器改变为0.1毫米到1.5毫米

软件

XSpect专业分析软件套件

  • 仪器控制、数据采集和管理
  • 用户可选择的触摸屏界面
  • 阶段控制和编程
  • 分析金属多层层厚度和组成
  • 定量成分分析、standardless和基于标准的实证模型
  • 光谱自动峰鉴别
  • 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
  • 报告生成器
  • 结果存档