M1 Mistral
紧凑的台式微型XRF光谱仪
散装材料和涂料
成本效益的操作
Punti Salienti
100 µm
最小点大小
甚至可以解决电路板上的精细结构细节
2 nm-60 µm
厚度范围用于分析多个多元素层
根据ASTM B568和ISO 3497对层厚度和组成的挑战分析；包括具有重复元素的层；可编程多点分析
8 ppm
Cu的检测极限，聚合物中的Zn或Zn中的Pb
ROHS筛选，对焊料，塑料，金属合金中的微量元素分析；对材料厚度的自动校正，PCB组件上的精确测量点位置
紧凑的多功能台式微XRF光谱仪
关键因素
- 灵活的仪器
- 易于操作
- 用户友好的触摸屏接口
- 访问原始数据
M1 Mistral是一种紧凑型台式能量分散微型XRF分析仪，用于多用途。M1 Mistral易于操作和设计用于工业环境中的快速和成本效益的操作，提供了有关材料的元素成分和层厚度的准确信息，例如贵金属合金以及多层结构。
根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497分析散装和涂层。在分析通过RH目标激发电气沉积镍磷酸盐（NIP）涂层时，可以实现高精度。
所有珠宝合金，铂金属金属或银的确切成分可以在一分钟内确定。结果可以以重量％或克拉的速度输出。
可以对分析进行无标准或基于标准的分析，以达到更高水平的准确性。每个应用程序都可以使用多种校准。
从定位样本到在报告中打印结果 - 整个工作流都集成在软件中。同时，可以通过对原始数据进行开放访问权限确保全面的透射率。
受益人
M1 Mistral的好处
可以非破坏性地衡量各种各样的元素。无需样品准备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程XYZ阶段自动化，并以单击单击。超快速检测系统可快速结果。
M1 Mistral带有大面积的硅漂移检测器（SDD），其计数速率性能和能量分辨率较高，可将检测限制降低到PPM水平。高性能检测器，数字脉冲处理和优化的几何条件会导致高效的X射线检测，从而快速，准确的分析结果。
M1 Mistral的易于使用和无维护的设计以及强大的分析软件套件许可操作，即使是仅接受简短培训的人员。无需消耗品或气体。坚固的结构确保最高稳定性和无维护操作。
Applicazioni
特定
技术细节
励磁 |
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最大限度。样本量和体重 |
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探测器 |
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超长舞台旅行范围 |
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广泛的元素 |
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仪器尺寸（w x d x h） |
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| X射线点大小 |
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软件
Xspect Pro Analytical软件套件
- 仪器控制，数据获取和管理
- 用户可选的触摸屏接口
- 舞台控制和编程
- 分析有关层厚度和组成的金属多层
- 定量组成分析，无标准和基于标准的经验模型
- 具有自动峰标识的频谱查看器
- 统计过程控制（SPC）趋势线和数据
- 报告生成器
- 结果存档
