D8 Advance Plus
ハイライト
D8 Advance Plus：多多研究研究
D8 Advance Plus -最大の性比类のないささささ
D8 Advance Plus Plusは多に使用のののののののの线プラットフォームです。このこのシステムシステムは，粉末，バルクバルクバルク材，ファイバー，シートシート，薄薄薄膜膜アモルファスニーズににマッチし。。
- 従来x x线粉末回折（xrd）
- 二体分布（PDF）解析
- 小x x线広角x x x（saxs，蜡）
- Xrr（x线测定测定）およびx x x hrxrd），，，カーブマッピングマッピングマッピング
- 氛囲気制御下大気氛囲気下
このののは，粉体粉体用のの用用用用集中集中集中集中系系系からから，，のののののののののののののののののの高高高高高高高高分解分解能平行切り替えることができること。
试料种类に关わらず，初心者者でエキスパートでももににもも対応対応できできできますます。。。。。。。。。。。。ます。。。。。。。。。。。。。。ははははははは，そのその比类
マーケットギャラリー
金属材料・部品
薄膜分析
制薬
エネルギー贮蔵・バッテリー
特长
主な机能
三人组
trio光学光学光学，，，，，，，のの使用シンプルに最も最も最も多様多様ななアプリケーションアプリケーションアプリケーションとサンプルサンプルタイプを可能可能可能にににしししますますます。。ユーザーユーザーユーザーのののの利便利便利便利便を考虑考虑考虑考虑考虑考虑考虑，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，が手动することなくシステムシステムはははつのビームを切り替えることができ。。
- Bragg-brentano集中集中集中法光学系系
- xrr，gid，キャピラリー测定高高强度强度强度强度强度强度强度系
- エピタキシャル薄膜能能x xrd xrd用kα1平行ビーム系系
粉末バルク繊维シート，薄膜膜多结晶结晶，エピタキシャルエピタキシャルエピタキシャルエピタキシャル结晶をををを含むすべてすべてののタイプの氛囲気氛囲気制御制御制御下下下ないない
材料研究ステージ
umcステージステージコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトステージはは，，，，，，，，，ののハンドリングを拡张しし，复雑复雑复雑でで精密な精密サンプルサンプルサンプルサンプルのの移动移动移动移动をををを可能可能可能にににに52mmののモーションを搭载しおりてててててサンプルサンプルを持ち持ち，，大きな大きなバルクバルクサンプルやや复数复数のののの小さな小さなサンプルサンプルサンプルサンプルのの分析分析分析にににに适し适し适してててコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトコンパクトphi phi phi psiチルト-5°〜〜〜〜〜〜〜ををををてますます。。，真空ユーティリティユーティリティフィードフィードスルースルーを备えてておりおり，，，，のの薄膜サンプルサンプルホルダーホルダーホルダーホルダーホルダーホルダーを所定位置することができます。のステージ氛囲気制御制御でででの测定测定のためのドーム型型高温高温ステージステージステージステージに
diffrac.davinciステージバヨマウントをし，サンプルを简単简単に交换。。
eiger2 r検出器
マルチモード机能机能机能次元次元次元次元次元次元次元次元次元次元ショットショット，，，，）
典型的万能で浅く広くカバーする，，，，，ははすべてアプリケーションの测定を可能
吸收なしを可能にダイナミックダイナミック，高速高速な粉末测定マッピングマッピングをを可能可能可能可能可能にににににするするするするするするするするするする次元次元次元次元次元次元次元次元次元次元方向方向方向の2Eiger2ははモード検出器の标准刷新するものています。
机能ギャラリー
Davinci.Design
动态束优化™
Lynxeye Xe-T
双/三重奏光学系
Eiger 2 r
コンプライアントラボ向けソリューション
アプリケーション
1つのでのアプリケーション対応対応
粉末回折
X x xrpd）技术技术技术，のを评価ため最も最も重要ななツールツールののです。。粉末のの回折回折パターンに含ま含まれる情报情报多く多く多く多く，结晶结晶结晶d8 Advance fiffrac.suiteソフトウェアソフトウェアななななななな法简単に実行できるににサポートしいい
- 结晶性晶质のの相のとのののの决定
- 混合物の相と晶质相の定量分析
- 微细构造（结晶，，乱れ...
- 热处理加工にする工业制品バルク応力応力応力
- 结晶配向解析
- Ab-initio结晶结晶构造，结晶精密化精密化精密化
残留応力と配向解析
応力と解析，，が限界までさされる金属金属サンプルサンプルでで日常日常日常的的ににさされれてていいます。。サンプルサンプルのののの表面表面表面表面をを缓和缓和缓和缓和缓和に延ばす。は，热热ショットピーニングなど的プロセスプロセスによってによって行う行うことができことができます。バルクバルクサンプルをを构成する结晶粒ののののに特定配向形成することことその特性をに向上向上ささせるせることができことができます。これらこれらの技术技术はいずれも，高付加高付加高付加高付加も重要です。
薄膜およびコーティング
Xrpd xrpd，，，同じ原理基づいていが，，さらにさらにビームビームビームコンディショニングコンディショニングと角度制御をを行いますます。代表代表的な例例例としてはは，，，，，，组成などありますが，に限定されるものではありんんん。。。薄膜薄膜薄膜薄膜ややのの分析分析分析ははは，，，，アモルファスアモルファスアモルファスアモルファスアモルファスやややや多多多结晶结晶结晶に焦点をい。。。。。。。ととdiffrac.suiteソフトウェアソフトウェアソフトウェア，以下のよう薄膜の高高なな解析解析をを可能。
- すれ入射x x线回折
- x线反射率
- 高能x x线回折
- 逆格子空间マッピング
アプリケーションギャラリー
结晶：阶段ID
结晶相の评価
氛囲気制御xrd
结晶配向解析
x线反射率（xrr）
仕様
D8 Advance Plus仕様
机能 |
仕様 |
利益 |
三人组 |
ソフトウェア按钮切り替え： 电动可（Bragg-brentano集中集中系） 高强度ミラー（Kα1,2平行ビーム系） ge（004）2结晶（Kα1高分解ビーム系） 特许：US10429326，US6665372，US7983389 |
6通り最大通りのなる光学自动で可能可能 非晶质，薄膜に，サンプルバルク，繊维繊维サンプル，フィルムサンプルサンプル，薄膜薄膜サンプルなどののあらゆるあらゆる |
Lynxeye Xe-t |
最高エネルギー分解：<380 eV @ 8 kev（25°C，幅） 検出：0d，1d，2d 対応：CR，CO，CU，MO，AG 特许：EP1647840，EP1510811，US20200033275 |
bragg-brentano集中光学系，，においてにおいてにおいてにおいてフィルターフィルター受光侧受光侧不要不要 cu波长で蛍光蛍光蛍光x x蛍光蛍光蛍光线ををををををををを 従来従来従来次元搭载と比较しして，最大大大大大大倍倍倍高速测定を実现 bragg-2d：発散発散を用いたたたた回折回折记录 検出器：不不素子（纳品） |
Eiger 2 r |
最新のカウンティング（HPC）技术技术にもづくマルチ（0d / 1d / 2dモード） |
0d，1d，2d検出モード用いスナップステップスキャン连続スキャン，アドバンスドスキャンの统合统合统合 2θまたはγ方向のを化する人间工学づいた検出器搭载方向机构 パノラミック光学は用いることなく広い情报の记录を実现 自动検出机构，测定に応じ测定记录と角度分解能のバランスを両立 |
扭管 |
アライメントなしラインとポイントの迅速な机构机构 |
电源コードウォーターホースチューブの取り外しなし Davinci.Design：焦点焦点完全自动设定设定 |
コンパクトumcステージ |
电动X：25mm Y Y：70mm Z：52mm 容量：2kg |
大型サンプル关心任意领域に対するの内のビームの正确な位置决め 复数のをて搭载して测定测定 |
コンパクトクレードルプラス |
电动phi：无无制限 电动：-5°から95°まで |
真空ユーティリティーフィードで安心てサンプルを取り付け可能 4轴回折轴回折结晶，応力応力薄膜の测定可能可能 |
D8ゴニオメーター |
光学エンコーダーステッピング制御制御制御轴轴轴メーターメーター |
ブルカー独自保证，他に类ない精度と确度実现実现 メンテナンスフリードライブ机构 |
氛囲気制御アタッチメント |
制御温度：-188 ～2,300℃ 制御制御范囲：10-⁴mbar～10 bar（7.5×10- torr〜7.5×10³torr） 制御湿度：5％〜95％（相対） |
大気氛囲気および制御下における分析 diffrac.davinciによるステージモニター制御制御 |
アクセサリー
XRD组件
bob电竞安全吗Bruker XRD解决方案由配置为满足分析要求的高性能组件组成。模块化设计是配置最佳仪器的关键。
所有类别的组件都是布鲁克（Bruker）的关键能力的一部分，它是由布鲁克·阿克斯（bob电竞安全吗Bruker Axs）开发和制造的，或与第三方供应商密切合作。
bob电竞安全吗Bruker XRD组件可用于升级安装的X射线系统以提高其性能。
ソフトウェア
plan.measure.Analyze － diffrac.suiteソフトウェアソフトウェアパッケージ
diffrac.suite™はx x粉末などデータ取得と评価を简単に行う行うためためのののの幅広い幅広いソフトウェアモジュールモジュールを提供提供microsoftのmicrosoftの.net。，ネットワーク，のソフトウェア技术のすべて备えてい。。
カスタマイズなインターフェース，プラグインフレームワーク采用し，ししし通通通通のルックルック＆＆＆フィールフィールフィールフィール，，性性ををを提供提供しししますますますますます。。。すべてすべてすべてすべてのの测定测定测定测定・ ・ ・ ・ ・ ・ソフトウェアソフトウェアソフトウェアのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより、ネットワーク内にあるD2 PHASER、D8 ENDEAVOR、D8 ADVANCE、D8 DISCOVERのあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
测定：：
向导- 测定条件検讨作成作成
指挥官- 装置制御と测定测定
工具 - メンテナンスメンテナンス
粉末回折：
dquant- 各种定量分析
伊娃- 结晶相定粉末粉末xrd解析
TOPA- プロファイル分析定量分析・解析解析
材料解析：
萨克斯- SAXS解析解析
xrr- 包括なxrr解析解析
质地- 使いやすをし极点极点図ソフトウェアソフトウェア
Leptos- 薄膜解析，応力解析
ウェビナー
サポート
サービスとサポート
以下を提供ます。
- 高度なトラブルシューティングの家ヘルプデスクのサポート，ハードおよびおよびソフトウェアのの问题をを特定解决
- サービス诊断アプリケーションのためののベースベースのリモート计测器サービスサービスサービス
- マージさリアリティ -あなた -あなたの侧のエンジニア（ビデオ）
- 计画（要件にて）
- お客の现场修理サービスサービス
- スペアパーツ性，通常，夜间中の数営业日以内に可能
- 设置/性能/性能性能のためのサービスサービス
- サイトの计画再配置
- 次のトレーニングコースを见つける
サポートウェブサイトをチェックてください：
- ソフトウェア更新プログラム
- 制品マニュアルおよびインストールガイド
- トレーニングビデオ
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