D8 Advance Plus
亮点
D8 Advance Plus：多多研究研究
D8 Advance Plus：具有最灵活性，为为易用性易用性易用性
D8 Advance Plus是d8Advance的版本版本版本，是多版版版版版版版版射线射线射线射线可可理想理想地满足您对对所有需求材和薄膜非晶，多晶外延）：
- 典型x x射线（（x xrd）
- PDF（PDF）分析
- 小x x射线散射散射saxs）和x x x射线射线散射散射散射（（（（（（（（（（散射散射散射散射散射
- x射线xrr）x xrd xrd（（摇摆曲线曲线曲线，倒易扫描扫描扫描环境环境环境环境下和
该的优势在于它能够在在在多多多在在在几何几何几何：从切换进行：从从进行：从从从从从从从几何几何几何几何：间的。需按下，整个按下，整个尽。。。
无论使用样品和想要何何，无论应用应用应用应用应用应用还是还是还是专家专家专家专家专家专家专家专家专家专家专家专家专家还是：dy Advance Plus Plus Plus Plus Plus plus plus plus plus plus plus plus plus plus plus具有
市场画廊
金属业
建筑材料
药物
化工/颜料
储能/电池
特点
主要特点
三人组
trio光路光路了了了了了了了光路的，使的的操作的种应用和样品样品样品类型。。为便于便于使用使用使用使用使用，该用户，该该该电动切换电动切换自动切换无需干预干预
- 用于粉末的的bragg-brentano聚焦几聚焦几
- 用于gid gid xrr的的高强度平行光束光束光束光束光束光束光束
- 用于的分辨率平行光束光束光束光束光束光束几
它非常在或或环境条件条件进行进行分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析粉末粉末粉末粉末块状材料，纤维纤维，，，片材片材片材和。。。。。
材料研究样品台
umc和和尤拉环尤拉环尤拉环样品台样品台能够精确地样品样品样品样品样品移动移动移动移动移动了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了了地样品地移动样品样品样品样品样品样品样品样品样品样品样品的的的的的的的的的的的样品处理处理处理Z Z轴52mm，可可分析大型块状样品多多个小样品紧凑型尤拉环尤拉环尤拉环尤拉环尤拉环尤拉环尤拉环尤拉环样品台样品台样品台的的的的的旋转旋转旋转旋转受受限制限制限制限制限制限制限制织构。另外另外，它另外另外多用途用途通孔通孔通孔通孔通孔用途通孔用途用途用途用途用途多多多小型小型小型小型薄膜薄膜薄膜薄膜手动手动手动手动x-x-x-x-y样品台非环境。，它们它们可借助借助借助借助借助借助借助借助借助
eiger2 r探测器
eiger2 r具有（（（（（（（模式模式模式模式模式）其实现吸收的动态范围，，于于超快粉末超快粉末测量和和快速扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描的的的的的的的的的的的的的的的的的扫描的扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描扫描空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间空间dectris公司的探测器，整合技术软件和硬件硬件
应用程序库
达文奇
（DBO）
Lynxeye Xe-T
三人组
eiger2 r探测器
为您合规实验室的方案方案
应用
一台衍射仪所有所有应用
粉末衍射
x射线（（（（（技术技术最材料材料表征表征之一粉末粉末衍射图中中的的的许多许多许多许多许多许多信息许多许多信息信息信息信息的的的的的的的的的的的的的的的的的的直接直接直接直接直接直接直接直接直接直接直接直接直接。简单地的xrpd：：
- 鉴别晶相非晶相，并并样品纯度
- 对多相的晶相非晶相进行定量分析
- 微观结构分析微晶，微应变微应变…）
- 热处理加工组件产生的大量应力应力
- （织构择优取向）分析
- 指标化从晶体结构和晶体结构精修
残余应力和分析
需要工业样品样品样品，通常金属金属残余应力和测量。。通过消除消除消除消除样品样品表面的的的拉应力引起引起压应力压应力压应力压应力压应力压应力完成微晶取向取向取向，决定取向决定裂纹的方式而通过通过在在材料材料材料中中形成特定的织构织构织构（材））领域领域占有一席之。。
薄膜和涂层
Xrpd与与与原理原理原理相同相同相同相同相同了调节和控制控制功能。典型示例示例包括但不相鉴定相鉴定晶体晶体质量质量。在涂层进行分析分析分析时时时分析分析在在在在在和和µm和µ µ之间的的层状材料进行进行进行特性特性分析（（从从从从非晶非晶非晶涂层涂层涂层涂层到薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜薄膜）进行以下质量的：：
- 掠入射衍射
- x射线反射法
- 高分辨率x射线射线
- 倒易空间扫描
应用范围
相鉴定
定量相分析
织构分析
x射线（xrr）
saxs（saxs）
技术参数
D8 Advance Plus规格
功能 |
规格 |
优势 |
三人组 |
软件：： （BB几何） 高强度ka1,2平行光束 高分辨率ka1平行光束 专利：US10429326，US6665372，US7983389 |
可在达达种不同光束几何自动化自动化电动切换电动切换，无需 是所有的分析理想选选选选选选，（（（（） |
Lynxeye Xe-T |
能量：<380 ev @ 8 kev 检测：0d，1d，2d 波长：cr，co、cu，mo和ag 专利：EP1647840 、EP1510811，US20200033275 |
无需kβ滤和二单色器单色器单色器 100％％过荧光荧光荧光荧光 450倍倍探测器探测器探测器探测器探测器探测器系统系统 bragg 2d：使用使用的初级收集收集收集收集收集收集数据 独一无二：交货：交货时无坏道无坏道 |
eiger2 r |
eiger2 r dectris公司开发基于混合光子计数的一代代代探测器探测器 |
在步进，扫描和和高级扫描模式中无缝集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成集成， 符合人体免对准器旋转旋转功能 使用完整探测器，免全景衍射光束光学系统 连续可探测器位置，以以角度和分辨率分辨率 |
旋转光管 |
在线焦斑焦斑应用轻松快捷地免准切换准切换准切换 |
无需或水管，无无拆卸管道管道 Davinci设计：全自动和配置方向方向 |
紧凑型umc样品台 |
x轴可范围：25毫米 y轴可：70毫米 z轴可：52毫米 承载：2公斤 |
精确定位中大型样品区域区域 支持安装，以以自动测量 |
紧凑型尤拉环尤拉环加样品台 |
phi：不不受限制限制限制 马达psi：-5°至95° |
真空通孔，轻松轻松样品安装 全四衍射，支持织构残余应力薄膜测量测量 |
D8测角仪 |
带独立电机光学编码器的双测角仪测角仪 |
布鲁克独有的保证，确保了与伦比的和精确度精确度 绝对免驱动/齿轮，终身，终身装置齿轮装置 绝对免/齿轮，终身，终身润滑 |
非环境条件 |
温度：从-4K到2500K 压力：10-⁴mbar至100bar 湿度：5％至95％ |
在环境非环境条件研究研究 diffrac设计助轻松更换品台品台 |
软件
tiffrac.suite进行进行规划测量和分析分析
diffrac.suite™带来丰富软件模块模块模块模块模块模块实现实现实现实现实现实现粉末衍射数据数据数据的的的采集采集采集和和和评估。。。基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于基于最大易用性和联网。
完全定制用户的是插件，提供插件，提供外观，感觉外观，感觉的，感觉感觉和和和和和操作操作操作操作操作操作。。所有测量和评估评估软件软件软件软件模块模块模块模块模块都都可以可以可以作为作为作为单独单独运行运行程序程序程序应用应用限制的允许访问和控制客户客户网络内内数量数量的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的的数量的数量数量数量数量数量控制控制控制控制控制控制控制控制控制控制
测量：：
向导 - 方法规划
指挥官 - 方法执行和测量测量
工具 - 仪器控制工具：：
粉末：：
dquant - 定量定量分析
eva - 相鉴定相鉴定定量分析分析
topas - 峰型分析定量分析，分析分析
材料：：
SAXS - 小x x射线散射软件软件
xrr - 全面x x射线反射分析分析
纹理 - 全面的分析满足易用性易用性
leptos - 薄膜/残余/残余应力研究
