D8推进生态は,D8回折計シリーズのプラットフォームのエントリーポイントとなる,すべての機能を備えたD8推进のエコモデルです。今日X線分析装置の調達と維持に必要なリソースはますます限られてきており,精度,精度,速度に対する要求はこれまで以上に厳しくなってきています。そんな要求に対して,d8 advance ecoは理想的なソリュションです。最小限の設置面積,使いやすさ,優れた分析性能が最大の特長です。D8 advance ecoは、様々な装置構成を合理化したことで、予算が限られている場合にも最適な回折計となっています。
D8推进生态は,D8シリーズの他の装置と同様に,以下のような雰囲気制御下もしくは大気雰囲気下,ですべてのX線粉末回折・散乱アプリケーションに対応しています。
D8推进生态は,D8と完全に互換性があるため,将来的な拡張性も十分にあります。また,いつでも新しいアプリケーションへのアップグレードが可能なため,将来的なX線回折・散乱アプリケーションにも対応することができます。
金属材料·機械部品
薄膜分析
製薬
エネルギ貯蔵·バッテリ
高輝度1千瓦のライン焦点X線源を搭載したD8推进生态は,エネルギー消費量が非常に少なく,外部冷却水を必要とせず,ラボのインフラに関する特別な要件がありません。必要なのは単相電源だけです。装置の配置および邮箱ンスト邮箱ルが簡単で柔軟性がある插件分析仕様です。
D8推进生态は最小の所有コストと,XRD装置の中で,最小の据置面積を実現しています。これはすべて,分析性能を犠牲にすることなく達成されています。
塞’分析:
D8推进生态は,市場で最もエコロジカルなX線回折計であり,アプリケーションの範囲,データ品質,柔軟性,アップグレード性の点で妥協することなく,その性能を発揮します。
D8推进生态は,すべての粉末X線回折・散乱アプリケーションに対応したD8推进のフル機能モデルです。D8提前と完全に互換性があり,将来に向けた柔軟性を提供します。D8 advance ecoは、いつでも新しいアプリケーションに対応できるように簡単にアップグレードすることができ、将来のX線回折・散乱アプリケーションにも対応することができます。
D8推进生态は,あらゆる予算レベルに対応する機器構成を採用したハイエンドな性能を備えています。また,水や電力などのリソ,スが少なくて済むため,運用コストを大幅に削減することができます。優れた機器品質と,他の追随を許さない部品保証により信頼性も保証されています。
达芬奇家具。设计
动态光束优化™
LYNXEYE XE-T
三人/双胞胎光学系
艾格尔2 r検出器
コンプラ邮箱アントラボ向けソリュ邮箱ション
x線粉末回折(xrpd)技術は,材料の特性を評価するための最も重要な。粉末の回折パタンに含まれる情報の多くは,結晶相の原子配列を反映しています。D8推进とDIFFRAC.SUITEソフトウェアは,一般的なXRPD法を簡単に実行できるようにサポートしています。
二体分布関数(PDF)解析は,散漫散乱(全散乱)と同様にブラッグ回折に基づいて不規則物質の構造情報を解析する手法です。ブラッグピークが材料の平均的な結晶構造(長距離秩序)に関する情報を提供するのに対し,拡散散乱はその材料の局所構造(短距離秩序)の評価を可能にします。
D8推进とTOPASソフトウェアは,アモルファス,低結晶,ナノ結晶,ナノ構造材料の分析において,分析速度,データ品質,結果の点において最高のパフォーマンスを発揮するPDF分析ソリューションです。
薄膜とコーティングの分析は,XRPDと同じ原理に基づいていますが,さらにビームコンディショニングと角度制御を行います。代表的な例としては,相同定,結晶質,残留応力,テクスチャー分析,厚さの決定,組成対ひずみ分析などがありますが,これらに限定されるものではありません。薄膜やコーティングの分析は,アモルファスや多結晶コーティングからエピタキシャル薄膜に至るまで,nm ~μmの膜厚を持つ層状材料の特性に焦点を当てています。D8推进とDIFFRAC.SUITEソフトウェアは,以下のような薄膜の高品質な解析を可能にします。
結晶相定性:阶段ID
結晶相の定量評価
雰囲気制御XRD
結晶配向解析
X線反射率測定(xrr)
機能 |
仕様 |
利益 |
環境 |
最小所有コスト 插入分析:ラボの和ンフラに特別な要件なし 外部冷却水不要 1kW X線源電源 |
電源は200v単相電源のみ。帐号ンスト帐号ルが容易か帐号柔軟 据置xrd装置の中で最小レベルの設置面積 年間最大1.700 m³の水を節約可能 電力消費量を約50%削減 |
trio / twin光学系 |
ソフトウェア按钮切り替え: 電動可変発散スリット(Bragg-Brentano集中法光学系) 高強度平行ミラ(k α1,2平行ビム光学系) Ge(004) 2結晶モノクロメタ(Kα1高分解能平行ビム光学系) 特許:us10429326, us6665372, us7983389 |
電動モタ制御により3の発散スリットモ2の平行ビ 非晶質,結晶質,エピタキシャル薄膜にかかわらず,粉末サンプル,バルクサンプル,繊維サンプル,フィルムサンプル,薄膜サンプルなどのあらゆるサンプルに最適 |
动态梁优化 |
最適化された連動動作を実現:電動発散スリット 電動エアスキャッタスクリン 可変アクティブ検出器ウィンドウ 角度範囲2Ɵ: <1~150º |
空気散乱および装置や試料由来の散乱がほぼない測定デタ 検出下限値が大幅に強化され,微量結晶相やアモルファス相の定量が可能に 低角2θでの他に類を見ない性能を発揮し,粘土,医薬品,ゼオライト,多孔質骨格材などの正確な評価が可能 |
Lynxeye xe-t検出器 |
最高エネルギ分解能:< 380 eV @ 8 keV(25°C,半値幅) 検出モド:0d, 1d, 2d 対応波長:Cr, Co, Cu, Mo, Ag 特許:ep1647840, ep1510811, us20200033275 |
Bragg-Brentano集中法光学系,POLYCAP平行ビーム光学系においてKβフィルターや受光側モノクロメーターは不要 Cu波長では鉄系サンプルからの蛍光X線を100%除去可能 従来の0次元検出器搭載システムと比較して,最大450倍高速測定を実現 Bragg-2D:発散ラ 検出器保証:不感素子なし(納品時) |
艾格尔2 r |
最新のハイブリッドフォトンカウンティング(HPC)技術にもとづくマルチモード検出器(0 d / 1 d和2 dモード) |
0 d, 1 d, 2 d検出モードを用いたスナップショット,ステップスキャン,連続スキャン,アドバンスドスキャンのシームレスな統合 2θまたはγ方向の記録領域を最大化する人間工学にもとづいた検出器搭載方向切り替え機構 パノラミック光学系は工具を用いることなく広い回折情報の記録を実現 自動検出機距離認識機構により,測定目的に応じて測定記録範囲と角度分解能のバランスを両立 |
捻管 |
調整作業なしでのラ邮箱ン焦点とポ邮箱ント焦点の迅速な切り替え機構 | 電源ケブルや冷却水配管,x線管球の取り外しが不要 达芬奇家具。设计:焦点方向の完全自動検出と設定 |
サンプルチェンジャ |
flip:9サンプル 自动更换:90サンプル |
反射および透過配置での測定 |
d8ゴニオメタ |
光学エンコダ付ステッピングモタ制御2軸ゴニオメ |
bob电竞安全吗布鲁克独自のアラ,メント保証により,他に類を見ない精度と確度を実現 メンテナンスフリドラ |
雰囲気制御アタッチメント |
制御温度範囲:-188 ~ 1600℃ 制御圧力範囲:10-。mbar ~ 1 bar (7.5×10-。Torr ~ 7.5×10。²托) 制御湿度範囲: 5% ~ 95% (相対湿度) |
大気雰囲気および雰囲気制御下における分析 DIFFRAC。达芬奇によるステジモニタと制御 |
bob电竞安全吗Bruker XRD溶液由高性能组件组成,以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器的关键。
所有类别的组件都是Bruker的关键能力的一部分,由Bruker AXS开发和制造bob电竞安全吗,或与第三方供应商密切合作。
bob电竞安全吗布鲁克x射线衍射组件可用于升级安装的x射线系统,以提高其性能。
DIFFRAC.SUITE™は,粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。微软。net技の術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは,安定性,使いやすさ,ネットワーク化など,最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。
カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは,プラグインフレームワークデザインを採用し,共通のルック&フィール,操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは,個別のアプリケーションとして操作することも,DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより,ネットワーク内にあるD2移相器、D8努力,D8进步,D8发现のあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
向导-測定条件検討と作成
指挥官-装置制御とマニュアル測定
工具—メンテナンス邮箱ンタ邮箱フェ邮箱ス
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT-各種定量分析
伊娃—結晶相定性と汎用粉末xrd解析
TOPAS—プロファ邮箱ル分析·定量分析·構造解析
材料解析ソフトウェア:
一枝-萨克斯解析ソフトウェア
XRR-包括的なxrr解析ソフトウェア
纹理-使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS—薄膜解析,残留応力解析
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