电子产品和制造

pcb和消费电子产品

bob电竞安全吗Bruker为LCD, LED,触摸屏或一般光电子制造商提供完整的解决方案,用于早期开发或末期的质量控制。

清洁技术

FT-IR显微技术的应用

使用粒子阱和FT-IR显微镜分析根本原因

我们解释了在技术清洁度方面,粒子阱和-FT-IR是如何协同工作的。

无论是细颗粒物还是微塑料。微小颗粒无处不在,除了对人类健康的影响外,它们是产品在生产过程中损坏和缺陷的主要原因之一。

凡是技术清洁是最重要和最重要的,可靠的残留污垢分析也是必须的。傅立叶变换红外显微镜是追踪污染路径和确定根本原因的重要工具。

与其他工具如粒子陷阱合作,可以创建潜在粒子原因的整个谱库。在出现缺陷和故障的情况下,可以搜索这些文件,以立即澄清损坏的原因。

失效分析

用FT-IR显微镜分析PCB的污染和失效

观察FT-IR显微镜是如何用来分析损坏的PCB的。

一个印刷电路板失败通常与损害造成的印刷电路板制造商在生产、运输或由于环境压力。如果发生这样的故障往往要花费一美元要花很多时间和精力。

为了节约这两种宝贵的资源,傅立叶变换红外显微镜是一个很好的选择,因为它可以大大有助于理解PCB损坏是何时以及如何发生的。通过细致的微观化学分析,FT-IR微光谱技术支持您在以下应用:bob平台靠谱吗

  • 客户投诉
  • 故障诊断过程
  • 产品失效和缺陷分析
FT-IR显微镜的工业bob平台靠谱吗应用

用FT-IR显微镜分析CMOS芯片电路板

污染对产品质量有负面影响;特别是杂质在微电子领域是一个极为重要的课题。的关键优点之一是揭示污染的来源并实现快速故障排除傅立叶变换红外显微镜。

红外光谱学的一个巨大优势是它与简单的目测相比提供了化学对比。这意味着,即使是无法被检测到的污染物,也可以通过FT-IR光谱方法被发现。

它通常用于识别焊接和清洗残留物,损坏的触点,损坏的电阻或在任何类型的残留污垢分析

CMOS传感器的视觉图像显示典型的拜耳矩阵。
失效分析与质量管理

电子元件元素分布的微x射线荧光分析

手机PCB填充。IC的塑料外壳对于像金、银和砷等重元素的高能辐射是透明的。其直径只有约10 μ m的键合线是很好的分解,而不需要搭接样品的任何部分。

微电子元件的复杂性日益增加。表面安装设备(SMD)和集成电路(ICs)的尺寸和距离越来越小,电线和连接在印刷电路板(PCB)内的几个层中实现。因此,接近这类样品的分析方法既需要高的空间分辨率,又需要深入观察样品深度的能力。

Micro-XRF是一种成像技术,它结合了约20 μ m的空间分辨率和对大多数金属非常高的元素灵敏度。M4龙卷风因此可以成为电子元件整个生命周期的伴侣,从新设计和材料的研发到贵金属元件的回收。

XRM应用

失效分析的新维度

消费电子产品包含无数的设备和传感器。随着时间的推移,这些组件的数量呈指数增长,而放置在一个不断缩小的外部包中。x射线显微镜可以对这些物品进行无损成像,而不需要拆卸。这也为下一代修复提供了机会,因为无需打开外壳就可以诊断故障模式,而打开外壳通常需要使用粘合剂和特殊工具,这一过程非常耗时。

质量控制

化学镀镍涂层

用微x射线荧光技术快速无损地控制化学镀镍层的质量

化学镀镍(ENP)是一种自动催化的化学过程,用于在基体上沉积一层镍磷(Ni-P)合金涂层。根据应用的不同,镍磷涂层的厚度一般在1 ~ 40 μm之间。化学镍镀层的磷含量不同,会影响特定的冶金性能。磷的含量范围通常从2%到15%不等。镍磷涂层的主要优点之一是,它提供了非常一致的厚度,不依赖于零件的几何形状。化学镀镍可以达到所有隐藏的表面,即使在最复杂的部分提供完整的涂层覆盖。化学镀镍被用于印刷电路板和连接器。


当需要对金属涂层进行严格的质量控制时,x射线荧光(XRF)分析是最佳的整体解决方案。现代的微x射线荧光仪器,比如布鲁克bob电竞安全吗M1米斯特拉尔可同时提供涂层厚度和涂层成分的测量。

受限制的材料筛选

用微x射线荧光技术筛选限制性材料

随着电子设备的日益增多,电子垃圾的产生也比以往任何时候都要快。近年来,欧盟和其他国家制定了多项条例,以促进电子废物的回收利用,并减少与电子废物生产增加有关的健康和环境风险。RoHS指令(限制使用某些危险物质)是旨在通过限制在电子设备中使用有害物质来减少有害物质进入电子废物流的规则集之一。这些受限制的材料包括重金属(铅、汞、镉)、六价铬、多溴阻燃剂(PBB和PBDE)和邻苯二甲酸盐。

x射线荧光(XRF)提供了一种快速、非破坏性筛选这些受限元素的方法。小光斑分析对于成功的分析是很重要的,因为分析光束必须与样本量相匹配M1米斯特拉尔micro-XRF是RoHS筛选的完美选择。对于RoHS筛选,0.4 mm到1.5 mm之间的可选准直仪可以对单个组件和电缆,以及大块样品(金属,焊锡,原材料)和大型电路板进行精确分析。

µx射线衍射

应用x射线衍射

用XRD分析焊接接头

电子元件用焊锡用电气和机械方式固定在电路板上。环境、助焊剂和焊料的相互作用可产生无数具有不同性质的结晶相。XRD超越了常规元素分析,通过积极识别存在的相,使失效模式得以正确诊断。