QUANTAX Micro-XRF

新的快速阶段是专门为扫描电镜,使大面积映射在毫米(mm)厘米(cm)。这将消除潜在的扫描电镜x射线强度变化构件与低放大率有关映射,从而加强元素和矿物信息及时的庄园,以前不可能的。

在样本观察元素变化的能力是重要的理解地质过程和矿床成因。双重源系统,包含一个micro-XRF SEM使元素x射线在大面积映射,也显示了主要、次要和微量元素ppm。

micro-XRF与SEM的结合使潜在的在多尺度分析样本,从厘米(cm)毫米(mm)微米(µm),低于一个孤独的系统内。因此,通过添加micro-XRF的扫描电镜SEM转换为双源系统,这意味着有两个励磁的来源,电子束和光子束。源可以单独使用,或同时,生成示例将使用相同的测量EDS x射线探测器。

我们提出一个SEM-XRF元素映射的地幔橄榄岩garnet-spinel diamond-bearing纽兰兹金伯利岩(南非、Kaapvaal克拉通)。各种元素的强度表明存在于某些矿物样本。

大区域映射(Hypermaps)使用SEM-XRF可以执行与地形样本。即需要最小的样品制备和样品可以直接分析没有任何恶化。这是特别相关的分析土壤,任何形式的样品制备,如安装和抛光或碳涂层,可以改变标本。

作为x射线可以通过问题,x射线荧光(光谱仪)允许层厚度的测定。使用micro-XRF SEM、层分析(厚度和组成)呈现可行的微米尺度的空间分辨率。使用原子层基于量化分析是强烈的基本参数(FP)。