观察样品中元素变化的能力对了解地质过程和矿床成因非常重要。双源系统包含一个扫描电镜上的微x射线荧光能够在大范围内进行元素x射线测绘,以ppm的尺度显示主要、次要和微量元素。
该图显示了一个外来铜矿样品的微- xrf大面积x射线地图(45 x 30毫米²),显示了铜(红色)、钙(绿色)、锰(蓝色)、硅(紫色)和氯(深绿色)的元素分布信息。此外,在该样品中还可以检测到电子束无法检测到的微量元素,如Co和SrEDS因为浓度太低和/或相关元素能量线太高。这些资料使人们能够更好地了解它们的分布、矿物学和结构关系以及矿床的成因。