Analisadores de Microscópio Eletrônico

QUANTAX Micro-XRF

senbilidade do Elemento Traço com Preparação Mínima de Amostras

我们的上帝,我们的上帝,我们的上帝áreas

Análise de Espessura de Filme

突出了

10 ppm
接近于deteccao
Ativando a análise de elementos traços devido ao fundo谱mais baixo
4毫米/秒
velocidade de viagem
O快速生长的天然紫杉醇,快速生长的紫杉醇áreas
1 nm - 40 μ m
Faixa de espessura da camada
1 nm的小片até estruturas de múltiplas camadas de 40 μ m podem ser analisados

Micro-XRF como técnica analítica互补à análise EDS没有SEM

  • 一个análise por espectroscopia de fluorescência de microraios X (Micro-XRF) é uma técnica analítica não破坏性补充à análise传统de espectroscopia de Energia分散(EDS) usando um microscópio eletrônico de varredura (SEM)。泰análises são重要的人,para a caracterização da composição一个人,一个人,一个人,一个人espécimes não homogêneos de grandes centímetros até pequenas partículas micrométricas。
  • 一个excitação de raios X produz uma sensibilidade muito maior para detecção de elementos traços (até 10 ppm para certos elementos), uma faixa光谱de raios X estendida (até 40 keV), bem como informações de maior深为关注的dentro da amostra。
  • 雷亚斯- x系列产品设备combinação com ótica雷亚斯- x系列产品微焦板,30 μ m系列产品内部设备transferência。
  • 嗯estágio模块化的基础,他们的piezo,特别的项目,以蒙多多没有拓扑做estágio SEM存在,permite mapeamento de raios X元素的高速度,在飞行中,他们的伟大áreas até乌玛速度,4毫米/秒。iso permite a aquisição de mapeamento de raios-X em em em tamanho de amostra 50 x 50 mm(欧优),混合的esando de elento de luz, bem como dados de elementos-traço e/ou de raios-X de energia mais alta de usar rápida e fácil de usar。fluxo de trabalho。
  • 一个主要的深奥的,excitação de raios X permite一个caracterização de sistemas multi amadas partir de 1 nm e variando até 40 μ m, o que não é possível com A excitação eletrônica。

好处

扩展seus递归analíticos SEM com Micro-XRF e快速阶段

  • 有潜力的人有潜力的人有潜力的人eletrônico有潜力的人有潜力的人,有潜力的人caracterização做材料-同时调查有潜力的人。
  • Usando o mesmo探测器para aquisição simultânea de电子束/micro-XRF,将光谱元素和luz元素结合起来,bem como元素和traço e/ou dados de raios-X de energia mais al。
  • Tanto o XTrace quanto o Rapid Stage estão perfeitamente integrados ao软件ESPRIT。
  • 一个quantificação合成EDS微x射线荧光结果caracterização de amostra mais completa,合成melhor sensiidade做元素de luz da excitação de elétrons合成melhor sensiidade做元素traço做x射线荧光。
  • Mapeamento simultâneo com excitação micro-XRF e-beam,组合做vantagens dos dois mundos。(carbono a sódio) usando o e-beam e- os elentos mais pesados por microxrf。
  • 我们的分离,我们的信仰,我们的信仰,我们的信仰,我们的信仰,são我的信仰,我的信仰。
  • Preparação mínima我们的导师superfície我们的导师,我们的导师,我们的导师
  • Quantificação sem padrões e baseada em padrões。

bob平台靠谱吗

公司有很多的东西,有很多的东西níveis de concentração他们有很多的东西

来自智利El Tesoro铜矿的奇异铜样品。

矿物样品的大面积测绘

新的Rapid Stage是专门为sem设计的,能够实现毫米(mm)到厘米(cm)尺度的大面积映射。这将消除与低倍率映射相关的潜在SEM x射线强度变化工件,从而在一个古老的庄园中增强以前不可能获得的元素和矿物学信息。
某外来铜矿床样品的大面积分布图。

奇异型铜矿床的元素和矿物分布

观察样品中元素变化的能力对了解地质过程和矿床成因非常重要。双源系统在扫描电镜上结合了微x射线rf,可以在大范围内进行元素x射线映射,显示ppm尺度上的主要、次要和微量元素。
来自新西兰Karangahake金矿的样本。

勘探和采矿的双源应用:含bob平台靠谱吗金浅热样品

微x射线荧光与扫描电镜的结合使分析样品在多个尺度的潜力,从厘米(厘米)毫米(毫米)到微米(微米)和以下在一个单独的系统。因此,通过将微xrf添加到扫描电镜,就可以将扫描电镜转换为双源系统,这意味着有两个激励源,电子束和光子束。这两种光源都可以单独使用,也可以同时使用,生成x射线样本,用同一台EDS探测器进行测量。
含金刚石榴辉岩的大面积分布图。

地幔岩石学与钻石的来源

我们提出了来自含金刚石的纽兰金伯利岩(南非,卡普瓦尔克拉通)的地幔石榴石尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物质。
土壤样本的大面积地图。

土壤中污染物和毒素的鉴定

利用SEM-XRF可以对具有地形特征的样品进行大面积制图(Hypermaps)。也就是说,只需要最少的样品制备,样品可以直接分析而不需要任何降解。这在土壤分析中尤其相关,因为任何形式的样品制备,如安装和抛光或碳涂层,都可能改变样品。
香烟结构

用SEM - micro-XRF分析薄膜

由于x射线可以穿过物质,x射线荧光(XRF)可以测定层的厚度。利用扫描电镜上的微x射线荧光光谱,在微米尺度的空间分辨率下对层的分析(厚度和成分)是可行的。层分析是基于原子基本参数(FP)的定量分析。

配件

Estagio快车

快速阶段可以安装在扫描电镜阶段的顶部,在大的样品区域快速映射。