XFlash 6 t-60
用于nm尺度及以下TEM分析的大固体角SDD
XFlash 6T-60探测器
安装再细管径探测器手指上的60mm2中等有效面积探测芯片可提供较大的固体角和高检出角。因此，XFlash®6 t-60非常适合X射线产量相对较低的应用,例如具有原子分辨率能谱面分析,必须保留晶带轴且样品不能倾斜的实验以及束流敏感标本(例如石墨烯、生命科学）。该探测器还提供非常好的能量分辨率，在Mn Kα时为126 eV。
总结起来，XFlash®6t-60具有以下优点:
- 良好的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, ckα为51 eV, F Kα为60 eV)
- 其他可用分辨率为Mn Kα的129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能(Be - Am元素范围)
- 焊接波纹管作为标配
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
- 可应要求提供无窗版本
XFlash 6T-60的应用建议领域包括:
- Tem和stem上的低x射线产量应用，包括球差校正电子显微镜