Xflash 6t-60
der SddMitGrößererAktiverflächefürtem-analytik im nm-bereich und darunter
der xflash 6t-60 detektor
Der Hier Verwendete SDDMittlererGröße，麻省理工学院Aktivenflächevon 60毫米2，在Einem Slim-Line Detektorfinger Montiert Ist中2-Detektor，Und U.U.auch im vergleich zum 100毫米2-Detektor，Und Das Bei Weiterhin Hohem Abnahmewinkel。derXflash®6T|60 ISTINSBESONDEREFürMessungenMitGeringeRöntgeneusbeuteGeeignet。所以Z.B.für Spektrometrie mit atomarer Auflösung oder Experimente, bei denen eine Zonenachse eingehalten werden muss und die Probe daher nicht zum Detektor gekippt werden kann, sowie für empfindliche Proben (Polymere, biologische Proben, andere C-haltige, wie z.B. Graphen).MIT 126 EV BEI MN-Kαbietet der deTektor eine sehr guteenergieaueauplösung。
zusammenfassend bietet der xflash®6T-60 Folgende涡流：
- Sehr guteenergieaueauplösung（126 ev bei mn-kα，51 ev bei c-kα和60 ev bei f-kαerhältlich）
- weitere lieferbareauflösung：129 ev bei mn-kα
- Verarbeitung HoherZählraten，Hohe Impulsbelastbarkeit
- ausgezeichnete leichtelement- und niedrigenergie-promenty（gesamtdetektionsbereich：be-am）
- geschweißterFaltenbalgfürvakuumtauglichkeit
- 振动Freiedetektorkühlung
- betriebsbereit sofort nach dem einschalten
- Wartungsfreier betrieb
- Niedrige betriebskosten
- kleine abmessungen，detektorfinger im slim-line设计
- Geringes Gewicht
- Fensterlose版本Auf Anfrage
empfohlene einsatzgebietefürden xflash®6T-60信德党：
- tem中的AlleVarianten von Eds-Analytik，stem und t-sem（stem im rem），einschließlichaberrationskorrigaterkorrigierter elektronennenmikroskopie