Xflash 6t-60

tem tem解析解析のの高立体立体角角角
Xflash 6t-60検出器

60mm2 EDSででででで,高立体角とと高取り出し取り出し角をを実现実现ますますいしたがってxflash®6t-60は原子能,维持するがありサンプルをことができないない実験,电子线ダメージををを(()においてにおいてにおいてでででででででで线线をことことが可能可能可能可能ですですです。。。。またまたまたははははははははははははははははははははははははでででででででででとしました。

Xflash®6t-60の点点

  • (((ckα的126 ev 、51 eV fkα)60 ev cとcとfはとは値値値値はと
  • その他のはmnKαで129eVです
  • (((x取得处理处理))
  • 広范囲元素分析と軽軽元素ででピーク能力能力((
  • 超高真空ベローズ标准対応
  • 电子顕微にを振动源をておりません
  • 通电后短时间で可能可能
  • ほぼメンテナンスフリー运用可能
  • 低い运用コスト
  • スリムラインを有しコンパクト设计设计
  • 軽量
  • ウィンドウなしバージョンも対応可能

Xflash®6t-60の分野分野

  • tem tem tem tem tem temおよびx xにおける线收量が