XFlash 6 t-60
纳米级及以下TEM分析的大立体角SDD
XFlash 6T-60探测器
介质活性面积60mm2芯片安装在细线探测器手指提供了大的立体角和高起飞角。的XFlash®因此，6T-60适用于x射线产量相对较低的应用，例如原子分bob平台靠谱吗辨率光谱分析，必须保持区域轴的实验，因此样品不能倾斜，以及束敏感样品(如石墨烯、生命科学)。该探测器在Mn Kα下的能量分辨率为126 eV。
总之，XFlash®6T-60具有以下优点:
- 良好的能量分辨率(Mn Kα时126 eV, C Kα时51 eV, F Kα时60 eV)
- 在Mn Kα下，其他可用分辨率为129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 优良的光元件和低能量性能(元件范围Be - Am)
- 焊接风箱为标准
- 没有产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 不需维护的操作
- 低运营成本
- 尺寸小，包括细线技术手指
- 低体重
- 可按要求提供无windows版本
XFlash的建议应用领域®6 t-60是:
- 低x射线产率在TEM和STEM上bob平台靠谱吗的应用，包括像差校正电子显微镜