eFlash XS

以显著增加实验室的数量，能够获得一个集成的EDS和EBSD系统，布bob电竞安全吗鲁克纳米分析公司已经开发了eFlash XS，这是一种独特的EBSD检测器，专门用于SEM市场的可负担部分。eFlash XS EBSD探测器被专门设计用于安装在低占用空间的sem上，如桌面sem和带有小腔的标准sem。

我们的EBSD在提供卓越性能的同时，我们利用专业知识开发了有史以来最可靠、最经济的EBSD检测器。eFlash XS的设计旨在提供最大的可靠性、易用性和图案质量，它由一个可装盒CMOS摄像头、一个创新的光学系统提供最大的光传输，以及一个高性能的用户可更换的荧光屏。它的USB3.0计算机连接(电源和数据)使eFlash XS成为一个真正的即插即用的工具。当不使用时，EBSD检测器的in-SEM部分滑出用于外部存储，以消除SEM阶段与检测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD探测器集成了第六代XFlash^®下的EDS探测器精灵2创建QUANTAX ED-XS，一个强有力的结合分析技术的入门级SEM市场。

主要优点(硬件和软件)

易用性

• 无需校准-随钻距离变化对模式中心的影响自动修正
• 不需要改变分集/模式分辨率;如有需要，可提供所有装箱模式
• 自动相机获得
• 自动晶体阶段设置-无需用户干预
• 没有意外插入EBSD检测器的风险
• 用户可自行置换的荧光屏
• 包括独立和同时获取EDS HyperMap和EBSD map
• 自动数据保存
• 地图获取结束时自动EHT关机是用户可选择的

新用户可以在较少的时间限制下接受培训并实践EDS和EBSD

样品制备质量可以在EBSD会议之前在昂贵的FE-SEM上检查

对可负担的sem进行常规EBSD分析，以减少FE-SEM积压

重要的规格

• 本机图像分辨率:720 x 540像素
  
• 支持装箱模式:2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
• 速度:525帧/秒(fps)在所有的二进制模式
• 用户可拆卸探测器头-滑动进和出机构
• 用户可自行置换的荧光屏
• 通过USB3.0电缆传输EBSD数据和电力(不需要额外的电缆或盒)
• 外形尺寸:长度~ 84mm，直径~ 48mm