电子显微镜分析

QUANTAX EBSD

无匹配性能的顺轴TKD

最好的空间分辨率

低探头电流要求

Основныемоменты

1.5
纳米
有效空间分辨率
独特的轴上TKD提供了最佳的样品探测器几何结构,导致无与伦比的性能
2
nA
所需的最大探头电流
轴上TKD可以在不影响速度和数据质量的情况下实现低探头电流测量
125000年
pps
FSE, BSE和STEM图像的超快速采集
无与伦比的ARGUS成像系统可在数秒内实现高对比度和低噪声成像

空间分辨率不匹配的纳米材料定向映射

QUANTAX EBSD系统,凭借其广受欢迎OPTIMUS 2探测器头,是扫描电镜中分析纳米材料的最佳解决方案。这里是原因:

  • 提供最好的空间分辨率,可达1.5纳米
  • 在不影响速度和/或数据质量的情况下,使用低探针电流
  • 唯一的TKD解决方案工作在超高分辨率模式的sem使用浸入式镜头技术
  • 全自动,内置百眼巨人成像系统

Преимущества

为什么我需要轴上TKD?

我们要感谢斯坦福大学的Aaron Lindenberg和他的团队,他们允许发表Ge-Sb-Te (GST)薄膜样品的DF-like图像!
  • 达到最佳的空间分辨率
  • 用于扫描电镜的定位和相位映射
  • 在不影响数据质量/完整性的情况下实现快速映射
  • 用于以难以置信的速度和全自动信号优化获取STEM类图像,具有出色的对比度和分辨率
  • 用于用低探针电流分析光束敏感材料。

Дополнительнаяинформация

资源和出版物