eFlash XS

以显著增加实验室的数量能够获得集成EDS和EBSD系统， bob电竞安全吗Bruker Nano Analytics开发了eFlash XS，一种独特的EBSD检测器，致力于SEM市场的经济实惠部分。eFlash XS EBSD检测器专门设计用于安装在低占地面积的sem上，如桌面sem和带有小室的标准sem。

我们的EBSD开发最可靠和最实惠的EBSD检测器，同时提供出色的性能。eFlash XS的设计旨在实现最大的可靠性、易用性和图案质量，它由具有分箱功能的CMOS摄像头、创新的光学系统提供最大的透光性和高性能用户可更换的荧光屏提供动力。它的USB3.0计算机连接(电源和数据)使eFlash XS成为一个真正的即插即用的仪器。当不使用时，EBSD检测器的扫描电镜内部分滑动到外部存储，以消除扫描电镜级与检测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD检测器集成了第6代XFlash^®EDS探测器精灵2用于创建QUANTAX ED-XS，为入门级SEM市场提供了强大的分析技术组合。

主要优势(硬件和软件)

易用性

• 无需校准- WD变化对图案中心的影响自动校正
• 不需要改变分箱/模式分辨率;如果需要，所有的装箱模式都是可用的
• 相机自动增益
• 自动晶体相位设置-无需用户干预
• 没有意外插入EBSD检测器的风险
• 用户可更换荧光屏
• 包括EDS HyperMap和EBSD地图的独立和同时获取
• 自动数据保存
• 用户可选择在地图采集结束时自动关闭EHT

新用户可以在更少的时间限制下培训和实践EDS和EBSD

样品制备质量可以在EBSD会议之前在昂贵的FE-SEM上进行检查

对负担得起的sem进行常规EBSD分析，以减少FE-SEM积压

重要的规格

• 原生图像分辨率:720 x 540像素
  
• 支持的装箱模式:2x2, 3x3, 4x4, 5x5, 6x6
• 速度:525帧/秒(fps)在所有装箱模式
• 用户可拆卸的探测器头部滑动进出机构
• 用户可更换荧光屏
• EBSD数据和电力传输通过USB3.0电缆(不需要额外的电缆或盒子)
• 外形尺寸:长~ 84毫米，直径~ 48毫米