二维材料和纳米光子学
独特的能力来表征新型二维和量子材料的纳米级光学，化学和材料特性
hBN Phonon-Polaritons
六方氮化硼表面声子极化子(SPhP)的纳米成像:(a)在Si衬底上有不同层的均质氮化硼表面的AFM高度图像;(b)由于SPhP沿hBN表面传播，s-SNOM振幅显示出强烈的干涉条纹;(c) s-SNOM相位表现为层厚交替的差相。图(b)和图(c)显示了SPhP在各层间波长的变化。
石墨烯等离子
石墨烯楔上表面等离子体极化子(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。三维视图相位图(左)，带有SPP驻波线截面的s-SNOM相位图(中)，s-SNOM振幅图(右)。
2 d超材料
互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了等离子体结构上光学手性的微观尺度起源。通过访问等离子体结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息，可以获得独特和互补的等离子体性质。Khanikaev等人，Nat. Comm. 7,12045(' 16)。Doi: 10.1038 / ncomms12045莱娅但是
Nanoantennas
nanoIR3-s提供s-SNOM振幅(下)和s-SNOM相位(上)数据。使用nanoIR3-s，采用s-SNOM模式，POINTspectra连续波QCL激光源获取数据。
纳米红外光谱
超宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图在时域上表现为自由感应衰减形式的相干分子振动(上)。样本干涉图中突出显示的特征是由于C-F模式的对称和反对称模式在频域的跳动(左下)。纳米ftir的单层灵敏度在单层pNTP(右下)上得到证明。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。
纳米红外光谱
在沉积时(c,d)和在140°c退火后(e,f)收集的溶液加工的CH₃NH₃PbI₃光电探测器的AFM-IR光谱和图像。高度图像(上一行)和相应的AFM-IR图像(下一行)。图片由Dong, R.， Fang, et al， (2015)， ad . Mater提供。， 27: 1912-1918。
多层尼龙和PE样品的s-SNOM成像
s-SNOM可用于多层聚合物薄膜的测量。在1640和1540厘米处观察到尼龙的吸收带。随后在1640 cm处进行s-SNOM成像，发现尼龙层与PE层之间存在明显差异。样本由DSM提供。
