二维材料和纳米光子学
独特的能力，以表征纳米尺度的光学，化学和新型二维和量子材料的材料性质
hBN Phonon-Polaritons
六方氮化硼表面声子极化子(SPhP)的纳米成像:(a)在Si衬底上显示具有不同层的均匀氮化硼表面的AFM高度图像;(b)由于SPhP沿hBN表面传播，s-SNOM振幅显示出强干涉条纹;(c) s-SNOM相位显示随层厚交替而不同的相位。图(b)和(c)显示了SPhP在不同层间波长的变化。
石墨烯等离子
石墨烯楔形表面等离子激元(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。三维视图相位图(左)、带有SPP驻波横截面的s-SNOM相位图(中)、s-SNOM振幅图(右)。
2 d超材料
互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了等离子体结构上光学手性的微观起源。通过获取等离子子结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息，可以获得独特和互补的等离子子性质。Khanikaev等人，Nat. Comm. 7, 12045(' 16)。Doi: 10.1038 / ncomms12045Czytaj więcej
Nanoantennas
nanoIR3-s提供s-SNOM振幅(底部)和s-SNOM相位(顶部)数据。数据采集使用nanoIR3-s使用s-SNOM模式与点光谱CW QCL激光源。
纳米FTIR光谱
超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图显示了时域内自由感应衰减形式的相干分子振动(上)。样本干涉图中突出显示的特征是由于C-F模的对称和反对称模在频域内的跳动(左下)。单分子pNTP(右下)展示了纳米ftir的单分子灵敏度。数据由美国科罗拉多大学波尔德分校马库斯·拉斯克教授提供。
纳米FTIR光谱
溶液处理的CH₃NH₃PbI₃光电探测器在沉积(c,d)和140°c退火(e,f)后采集的AFM-IR光谱和图像。高度图像(上行)和相应的AFM-IR图像(下行)。图片由Dong, R.， Fang等人(2015)提供。， 27: 1912-1918。
多层尼龙和聚乙烯样品的s-SNOM成像
s-SNOM可用于多层聚合物薄膜的测量。对于尼龙，在1640和1540 cm处的吸收带被观察到。后续的s-SNOM成像(1640 cm)显示了尼龙层和PE层之间的对比。样本由DSM提供。
