Matériaux 2D et nanophotonique
Capacités unique pour caractériser les propriétés opboutique, chimiques et matérielles à l ' échelle nanométrique des nouveaux matériaux 2D et quantiques
Les matériaux 2D et Les nanophotoniques offrent undomaine passionandrecherche et développement de matériaux pour un large éventail de nouvelles applicbob平台靠谱吗ations。La plate-forme SNOM)(s-SNOM)de分散nanoIR3offre des capacités unique pour caractériser les propriétés opboutique, chimiques et matérielles à l ' échelle nanométrique d ' une large gamme de nouveaux matériaux 2D et quantiques。其要求包括:
- 表面的等离子体和极化激元
- Matériaux 2D compant le graphène
- 纳米光子学
- Antennes optique
- Propriétés opttes à l ' échelle nanométrique
hBN Phonon-Polaritons
表面声子极化光子纳米像(SPhP)六方孔纳米像(hBN): a)表面声子极化光子纳米像homogène hBN avec différentes衬底纳米像;b) l '振幅s-SNOM montrant de fortes fres d 'interférence￣à la propagation de SPhP le long de la surface sur hBN;c) phase s-SNOM montrant une phase de différence avec des épaisseurs de couche alternées。Les images b) et c) montrent Les longuers d 'onde changeantes du SPhP à travers Les长沙发。
Plasmonique de石墨烯
相位和振幅的图像，相位s-SNOM，极化子，等离子体表面(SPP)，由硬币graphène。三维相位图像(à gauche)，相位s-SNOM图像(au中心)快速切面横向图像de ligne de l 'onde debout SPP，以及振幅s-SNOM图像(à droite)。
Metamateriaux 2 d
Les images complémentaires AFM-IR et SNOM de diffusion révèlent, pour la première fois, Les originines microcales de la chiralité optique sur Les structures plasmoniques。En accédant à la fois à l '信息辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)结构等离子体，on peut obtenir des propriétés等离子体独特的et complémentaires。Khanikaev科尔。， Nat. Comm. 7, 12045('16)。Doi: 10.1038 / ncomms12045在知道+
Nanoantennas
nanoIR3-s fournit des données d '振幅s-SNOM (en bas)和相位s-SNOM (en haut)。Données获得à l 'aide de nanoIR3-s en utilant le mode s-SNOM avec源激光点光谱CW QCL。
Spectroscopie纳米红外光谱
光谱学SNOM超apide-à大波段sondant l’information vibratoire moléculaire。L 'interférogramme激光du polytétrafluoroéthylène(聚四氟乙烯)montre des振动moléculaires cohérentes sous formme de décomposition à感应自由丹勒域du temps (en haut)。La caractéristique mise en évidence dans l 'interférogramme d ' échantillon est due au battement du mode symétrique et antisymétrique des modes C-F dans le domaine de fréquence résultant (en bas à gauche)。La sensibilité de monocouche du纳米ftir est démontrée sur un pNTP monocouche (en bas à droite)。Données gracieuseté马库斯·拉斯克教授，Université杜科罗拉多，博尔德，États-Unis。
Spectroscopie纳米红外光谱
CH₃NH₃PbI₃photodétecteur traité la solution recueillis comme déposés (c,d) et après l 'anéalisation à 140°c (e,f)。高级图像(ligne supérieure)和AFM-IR通信人员(ligne inférieure)。影像gracieuseté德董，R.，方等，(2015)，ad . Mater.;27日:1912 - 1918。
多层尼龙和聚乙烯样品的s-SNOM成像
s-SNOM peut être utilisé pour mesurer des films polymériques multicouches。Ici, des bandes d’absorption à 1640 et 1540 cm¹ont été observées pour le nylon。L’imagerie s-SNOM suivante à 1640 cm¹a montré un contraste entre la couche de nylon et la couche PE。例四:面向目标的DSM自动化。
