2D材料和纳米光子学
表征新型2D和量子材料的纳米级光学，化学和材料特性的独特功能
HBN声子 - 两极
六角形硝化硼（HBN）上表面声子极化子（SPHP）的纳米成像：（a）AFM高度图像显示均匀的HBN表面，在Si底物上具有不同的层；（b）S-SNOM振幅显示出强烈的干扰条纹，这是由于沿HBN表面传播的SPHP引起的；（c）S-SNOM相显示了与交替层厚度的差相。图像（b）和（c）显示了整个层中SPHP的波长变化。
石墨烯等化性
石墨烯楔形上表面等离子体极化子（SPP）的S-SNOM相和振幅图像。3D视图相位图像（左），S-SNOM相图像（中心）具有SPP常驻波的线横截面和S-SNOM振幅图像（右）。
2D超材料
互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了光学手性在等离子间结构上的微观起源。通过访问有关等离子间结构的辐射（S-SNOM）和非辐射（AFM-IR）信息，可以获得独特的和互补的等离子特性。Khanikaev等，Nat。通讯。7，12045（’16）。doi：10.1038/ncomms12045详细はこちら
纳米ant
Nanoir3-S提供S-SNOM振幅（底部）和S-SNOM相（顶部）数据。使用nanoir3-s使用S-SNOM模式获得的数据与点Pectra CW QCL激光源。
纳米FTIR光谱
超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚二氟乙烯（PTFE）的激光干扰图显示了时域（顶部）的自由传播衰减形式的相干分子振动。样品干涉图中突出显示的特征是由于在频域（左下）中击败了C-F模式的对称和反对称模式。单层PNTP（右下）证明了纳米ftir的单层灵敏度。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。
纳米FTIR光谱
AFM-IR光谱和溶液处理的Ch₃nH₃PBI₃光电探测器的图像收集为沉积（C，D），并在140°C退火后（E，F）退火。高度图像（顶行）和相应的AFM-IR图像（底行）。图像由Dong，R。，Fang等人（2015），Adv。Mater。，27：1912–1918。
多层尼龙和PE样品的S-SNOM成像
S-SNOM可用于测量多层聚合物膜。这里观察到1640和1540cm⁻⁻的吸收带对尼龙观察到。随后在1640cm⁻那里进行的S-SNOM成像在尼龙层和PE层之间显示出对比度。样本提供由DSM提供的。
