纳米级红外光谱法（AFM-IR）：对聚合物系统的分子理解

网络研讨会概述Dow Chemical如何使用NanoIR2在聚合物系统的分子水平上提供更深入的了解，以观察聚合物材料中的化学对比度。

“我们发现AFM-IR是一项非常有力的技术，用于表征纳米级的结构。”

网络研讨会概述Dow Chemical如何使用NanoIR2在聚合物系统的分子水平上提供更深入的了解，以观察聚合物材料中的化学对比度。

网络研讨会主题

AFM-IR技术和最近的创新
特别关注聚合物系统中的AFM-IR应用
混合多层聚合物膜
审查AFM-IR空间分辨率

扬声器

格雷格·迈耶斯博士

核心研发研究员 - 分析科学，道琼斯工业化学公司，密歇根州米德兰

Gregory F. Meyers博士是DOW Chemical Company的Core R＆D - 分析科学的研究员。他在表面和界面表征小组中具有战略规划的技术领导力。他的技术专业知识领域是扫描探针显微镜，在那里他建立了DOW的全球AFM能力。格雷格（Greg）与Craig Prater博士（以前是Veeco，Inc。）一起在一个3年，$ 13mm的关节NIST ATP项目上，以基于原子力显微镜平台开发定量的纳米力学测量值。他还参加了Bruker（Anasys Instruments）Nanoir平台（2010 R＆bob电竞安全吗D 100冠军）的开发。他是1本教科书的作者或合着者，4本书章节，59个出版物和2项专利。格雷格（Greg）于1979年获得了鲍登学院（Bowdoin College）的化学学士学位，并于1985年获得了德克萨斯A＆M大学的无机化学博士学位。