纳米尺度红外光谱(AFM-IR):实现聚合物体系的分子理解

网络研讨会概述了陶氏化学如何利用纳米ir2在分子水平上对聚合物系统进行更深入的了解，以观察聚合物材料中的化学对比。

“我们发现AFM-IR是表征纳米尺度结构的一种非常强大的技术。”

网络研讨会概述了陶氏化学如何利用纳米ir2在分子水平上对聚合物系统进行更深入的了解，以观察聚合物材料中的化学对比。

网络研讨会的主题

AFM-IR技术和最近的创新
特别关注AFM-IR在聚合物体系中的应用
杂化多层聚合物薄膜
AFM-IR空间分辨率综述

演讲者

Greg Meyers博士

陶氏化学公司核心研发分析科学研究员，米德兰，密歇根州

Gregory F. Meyers，博士，陶氏化学公司核心研发-分析科学研究员。他是表面和界面表征组战略规划的技术领导。他的专业技术领域是扫描探针显微镜，在那里他建立了陶氏化学的全球AFM能力。Greg与Craig Prater博士(曾任职于Veeco, Inc.)一起担任联合首席研究员，参与了一个为期3年、耗资1300万美元的NIST ATP联合项目，开发基于原子力显微镜平台的定量纳米力学测量。他还参与了Bruker (Anasys Instruments)纳米红外平台的开发(2010年bob电竞安全吗研发100名获奖者)。他是1本教科书、4个书籍章节、59篇出版物和2项专利的作者或合著者。1979年获得鲍登学院化学学士学位，1985年获得德克萨斯农工大学无机化学博士学位。