纳米级IR光谱(AFM-IR):实现聚合物系统的分子理解

网络研讨会概述了Dow Chemical如何使用NanoIR2在聚合物系统的分子水平上提供更深入的理解,以观察聚合物材料中的化学对比。

“我们发现AFM-IR成为一个非常强大的技术,用于在纳米级上表征结构。”

网络研讨会概述了Dow Chemical如何使用NanoIR2在聚合物系统的分子水平上提供更深入的理解,以观察聚合物材料中的化学对比。

网络研讨会主题

  • AFM-IR技术和最近的创新
  • 专注于AFM-IR在聚合物系统中的应用
  • 混合多层聚合物薄膜
  • 审查AFM-IR空间分辨率

扬声器

格雷格迈耶斯博士

研究员,核心研发 - 分析科学,Dow Chemical Company,Midland,MI

Gregory F. Meyers,Phd,是Dow Chemical Company的核心研发 - 分析科学研究。他拥有地表和界面特征组中的战略规划技术领导。他的专业技术领域正在扫描探针显微镜,在那里他建立了Dow的全球AFM能力。格雷格是一名共同主体调查员,以及克雷格博士(以前的Veeco,Inc。)在3年,13毫米的联合NIST ATP项目中,基于原子力显微镜平台开发定量纳米力学测量。他还参与了Bruker(Anasys Instruments)Nanoir平台(2010 R&bob电竞安全吗D 100获奖者)的开发。他是1教科书的作者或共同作者,4章书籍,59个出版物和2项专利。格雷格于1979年从Bowdoin College获得了BA学位,并于1985年从德克萨斯州A&M大学的无机化学博士学位。