纳米尺度红外光谱(AFM-IR):实现聚合物体系的分子理解

网络研讨会概述了陶氏化学如何使用nanoIR2在聚合物体系的分子水平上提供更深入的理解，以观察聚合物材料中的化学对比。

“我们发现AFM-IR是一种非常强大的纳米级结构表征技术。”

网络研讨会概述了陶氏化学如何使用nanoIR2在聚合物体系的分子水平上提供更深入的理解，以观察聚合物材料中的化学对比。

网络研讨会的主题

AFM-IR技术和最近的创新
特别关注AFM-IR在聚合物体系中的应用
杂化多层聚合物薄膜
AFM-IR空间分辨率综述

演讲者

格雷格•迈耶斯博士

密歇根州米德兰，陶氏化学公司，核心研发-分析科学研究员

Gregory F. Meyers，博士，陶氏化学公司核心研发分析科学研究员。他是表面和界面表征组战略规划的技术领导。他的专业技术领域是扫描探针显微镜，在那里他建立了陶氏的全球AFM能力。Greg与Craig Prater博士(曾任职于Veeco, Inc.)共同参与了一个为期3年、价值1300万美元的NIST ATP联合项目，该项目旨在开发基于原子力显微镜平台的定量纳米力学测量。他还参与了Bruker (Anasys Instruments)纳米ir平台的开发(2010年bob电竞安全吗研发百强奖)。他是1本教科书，4本书章节，59篇出版物和2项专利的作者或合著者。1979年获得鲍登学院化学学士学位，1985年获得德州农工大学无机化学博士学位。