QUANTAX EDS对扫描电镜
XFlash®7 -新EDS探测器系列
合适的角度更好的分析
快。精确。可靠的。
ハイライト
1000000年
cps
实际分析吞吐量1000000 cps
达到无与伦比的速度分析
> 2200
元素的行
量化使用最全面最复杂的数据包括原子数据库。K, L, M和N行
> 1.1
老
最大的x射线立体角集合
最大化你的样品处理量与最优几何最有效集合生成的x射线
能量色散谱扫描电镜,FIB-SEM和电子探针
- bob电竞安全吗力量的最新一代QUANTAX XFlash EDS的特性®7系列检测器,它提供了最大的立体角对x射线(也称为集合的角度)和集合最高的吞吐量。
- 的XFlash®7继续设置标准性能和功能能量色散谱分析的扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针微分析仪(电子探针)。
- 的XFlash®7探测器家庭还提供优化的解决方案EDS电子透明标本在TEM和SEM分析,以及独特的XFlash®FlatQUAD,探测器回答你问题具有挑战性的样本。
- 款超薄的线性技术,大量角设计,最新一代脉冲处理,最大化系统正常运行时间通过预测性维护。
- 最高的光谱性能获得最好的能量分辨率。
- 提高结果的准确性由standardless sophisiticated量化算法和一个独特的组合和基于标准的方法。
利点
让你的元素分析更有效!
- 获得非常精确的结果与单独优化EDS系统更快。它确保无与伦比的速度和精度。
- 缩短测量时间和最大化吞吐量,使映射和量化设置没有数据大小的限制。
- 分析具有挑战性的样品现在,由于最有效的几何生成x射线的集合。
- 受益于准确和可靠的量化结果与优化几何背景最小化,避免吸收。
- 检测少量有更好的检测极限,降低背景和减少吸收。
- 一个所有- EDS的无缝集成,改进算法,EBSD, Micro-XRF全面思捷环球任何SEM分析平台,FIB-SEM和电子探针。
