QUANTAX EDS用于扫描电镜
XFlash®7 -新型EDS探测器系列
正确的角度，更好的分析
快。精确。可靠的。
突出了
1000000年
cps
实际分析吞吐量高达1,000,000 cps
实现无与伦比的分析速度
> 2200
元素的行
使用最全面的原子数据库，包括K, L, M和N线，量化最复杂的数据
> 1.1
老
x射线收集的最大立体角
用最佳的几何形状最大化你的样品吞吐量，以最有效地收集生成的x射线
SEM, FIB-SEM和EPMA的能量色散光谱分析
- bob电竞安全吗布鲁克最新一代QUANTAX EDS的特点是XFlash®7 .探测器系列，其中提供了最大的立体角为x射线的收集(也称为收集角)和最高的吞吐量．
- 的XFlash®7 .继续制定标准性能和功能扫描电子显微镜(SEM)，聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针微分析仪(EPMA)的能量色散光谱分析。
- 的XFlash®7探测器系列还提供了TEM和SEM中电子透明样品的EDS分析优化解决方案，以及独特的XFlash®FlatQUAD，一个探测器，用来回答您的问题，有挑战性的样品。
- 微细线技术，大采集角度设计，最新一代脉冲处理，最大化系统正常运行时间通过预测性维护。
- 最高的光谱性能获得最佳的能量分辨率。
- 提高结果的准确性通过复杂的量化算法和无标准和基于标准的方法的独特组合。
Vorteile
让你的元素分析更有效!
- 通过单独优化的EDS系统，可以更快地获得非常精确的结果。它保证了无与伦比的速度和精度。
- 通过最大的吞吐量缩短测量时间，支持在所有设置下的映射和量化，而不限制数据大小。
- 现在分析具有挑战性的样本，感谢生成x射线最有效的几何集合。
- 精确可靠的量化结果与优化的几何最小化背景和避免吸收。
- 检测量小，检出限好，背景低，吸收少。
- 一是将EDS、WDS、EBSD和Micro-XRF无缝集成于一体的全面思捷环球任何SEM, FIB-SEM和EPMA分析平台。
