NANOSTAR

NANOSTAR具有无可比拟的模块化特性，是小角x射线散射(SAXS)、掠射小角x射线散射(GI-SAXS)、广角x射线散射(WAXS)和纳米成像表征纳米结构和纳米结构表面的理想工具。反射镜条件下的针孔准直系统产生平行、理想的圆光束形状，具有高强度和低寄生散射。超大(XL)样品室可容纳各种专用和第三方样品级，用于在所有条件下测量许多样品类型。最后利用大型、低背景、高灵敏度的二维探测器采集各向同性和各向异性样品的散射信号。

这种独特的x射线源提供了非常稳定和强烈的点聚焦x射线束，而不需要水冷却。由于其坚固的设计，该源带有3年的保修。IµS包括集成的MONTEL，最先进的2-D光束整形光学器件，用于样品的最高强度。这种并排的多层反射镜设计从光源捕获大的立体角x射线，并有效地在高度平行和单色光束中重新定向。

使用microgap的VANTEC-500二维探测器^TM技术满足专用SAXS系统的所有理想要求。首先，不需要燃气、水或日常维护，也不需要担心强烈的辐射或运动损坏，从而使探测器坚固耐用，非常易于使用。一个大的活动区域(直径14厘米)，以实现巨大的角度覆盖与全视野。令人难以置信的低背景和高最大计数率，为梦幻般的动态范围和灵敏度弱散射样品。出色的空间分辨率，以解决紧密间隔的散射特征。没有其他检测器可以为这些应用提供这些理想功能的组合。bob平台靠谱吗

小角度x射线散射(SAXS)是由粒子嵌入不同电子密度的基质中所引起的一种现象。当粒径为1nm ~ 200nm时，根据x射线波长的不同，散射角在0°~ 5°之间。颗粒越小，散射角越宽。

在任何介质中，粒子的任何排列都显示出电子密度的差异，这在执行SAXS实验时产生了特定的模式。除了粒子的大小，SAXS还可以根据二维模式确定它们的形状、间距和大小分布。颗粒可以是溶解的大分子、金属中的沉淀物、生物组织中的矿物颗粒和表面活性剂胶束。

与SAXS相反，广角x射线散射(WAXS)在埃水平上检查结构，这是典型的晶体结构的面间距离。通常使用WAXS来分析Bragg x射线衍射(XRD)图，可以帮助确定晶体结构，结晶度，晶体尺寸和相组成(phase ID)。WAXS数据可以与SAXS数据同时收集，第二个探测器的位置更靠近样品。

纳米摄影研究利用电机驱动的XY级集成到NANOSTAR的样品室。这允许样品的选定区域通过x射线束自动扫描。强度分布(或其他散射参数)可以通过颜色编码的等高线图来显示。

纳米技术允许快速和选择性地检测相关的测量点与不均匀的样品，甚至允许小样品被精确定位。完整的纳米图像的每个单独的点本身代表二维收集的积分SAXS/WAXS强度。