NANOSTAR

비교할수없는모듈성을갖춘NANOSTAR는X선소각산란(粉煤灰)방목발생X선소각산란(GI-SAXS)광각X선산란(蜡),나노그래피에의한나노구조및나노구조표면의특성화를위한이상적인도구입니다。미러컨디셔닝핀홀콜리메이션시스템은고강도및낮은기생분산을갖춘평행하고이상적인원형빔모양을생성합니다。초대형(XL)샘플챔버는모든조건하에서많은샘플유형의측정을위해다양한전용및3자샘플단계를수용합니다。마지막으로산란된신호는등방성및이방성샘플에대해크고낮은배경의고감2 d검도출기로수집됩니다。

이독특X선한소스는물냉각없이매우안정적이고강렬한스팟포커스X선빔을공급합니다。견고한디자덕분에소스에는3년보이제공됩니다。我μS에는샘플에서가장높은강도를위해최첨단2 d빔형성광학인통합蒙特尔이포함되어있습니다。并排이다층미러디자인은소스에서큰입체각을포착하고고도로평행한단색빔으로효율적으로방향을전환합니다。

Mikrogap^TM기술을갖춘vantec - 500 d검출기는전용一枝시스템의모든이상적인요구사항을충족시킵니다。첫째,가스,물또는일상적인유지보수가필요없으며강렬한방사선이나운동손상에대한우려없이견고하고사용하기쉬운검출기의결과를초래합니다。넓은활성역(직경14cm)은전체시야와거대한각도커버리지를가능하게합니다。환상적인동적범위와약한산란샘플에대한민감도에대한매우낮은배경과높은최대카운트속도。간격이밀접하게분산된피쳐를해결하기위한우수한공간해상도。다른검출기는이러한응용분야에이상적기능의이러한조합을제공할수없습니다。

소각X선산란(粉煤灰)은상이한전자밀도의매트릭스에내장된입자에의해발생하는현상이다。입자크기가1 nm에서200海里사이인경우,산란각도는사용되는X선파장에따라0°~ 5°의범위내에있습니다。입자가작을수록분산각도가넓어집니다。

임의의매체에서입자의배열은전자밀도의차이를나타내며,一枝실험을실행할때특정패턴을초래합니다。一枝는입자의크기와함께모양,거리떨어져및2 d패턴의크기분포를결정할수도있습니다。,입자는거대분자금속의침전,생물학적조직의미네랄입자및계면활성제미겔이용해될수있습니다。

一枝와달리광각X선산란(蜡)은일반적으로결정구조의중간거리인埃레벨의구조를검사합니다。종종蜡는결정구조,결정성정도,결정성크기및상조성(阶段ID)을결정하는데도움이되는X -선회절(XRD)패턴을브래그분석하는데사용됩니다。蜡데이터는2차검출기가샘플에훨씬더가깝게배치된一枝데이터와동시에수집될수있다。

나노그래피조사는NANOSTAR의샘플챔버에통합된모터구동XY단계를활용합니다。이렇게하면샘플의선택한역을x선빔을통해자동으로스캔할수있습니다。그런다음강도분포(또는기타산란매개변수)를색상으로구분된윤곽플롯을사용하여표시할수있습니다。

Nanography는불균일한샘플을사용하여관련측정점을빠르고선별적으로감지할수있으며작은샘플도정확하게배치할수있습니다。전체나노그래피이미지자체의각개별점은二维에의해수집된일체형一枝/蜡강도를나타낸다。