半导体微芯片材料中的元素识别

硅化钨是一种导电陶瓷材料,用于微电子学,如微芯片。硅化钨也可以作为耐火相出现在半导体材料中,如硅晶圆。

为了在质量控制期间实现微纳米水平的高空间分辨率,分析必须在低加速电压下进行,使这些相的识别复杂化。在低加速电压下,只有与衬底硅Kα线严重重叠的钨M系列能量线产生。

由此产生的主要元素的EDS峰略有加宽,掩盖了第二相的存在。与此相反,像W这样的元素是使用置信度来识别的QUANTAX改进算法由于其优越的光谱分辨率。

在SDD的电子微芯片上获得的Si和W的x射线元素分布图
硅化钨在1.6 ~ 2.0 keV能量区域的x射线光谱切片显示WDS的高光谱分辨率