QUANTAX FlatQUAD
x射线探测的最大效率
无与伦比的吞吐量
敏感的样品分析
洛马斯destacado
1
纳米
空间分辨率
扫描电镜的纳米级分辨率
> 1.1
老
最高的立体角
立体角表示生成x射线的几何收集效率
2400年
kcps
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍
QUANTAX FlatQUAD -当传统的sdd达到限制
QUANTAX FlatQUAD是基于EDS的革命性微量分析系统XFlash®FlatQUAD．该环形四通道硅漂移探测器插入SEM极片和样品之间，在EDS中实现最大的立体角。结合思捷环球分析软件套件，QUANTAX FlatQUAD提供无与伦比的绘图性能，即使是最困难的样本。
- 极快的映射只用适度的光束电流
- 在极低的束流电流(< 10pa)下分析束流敏感材料，例如生物或半导体样品
- 带地形的样品调查，避免阴影效应
- 在低千伏和最高放大倍率下纳米粒子和纳米结构的分析
- 薄样品的测量(例如TEM薄片)和其他在扫描电镜中x射线产率较低的样品。
锻炼耐力
最大限度地提高您的效率
布鲁克独特的环形设计bob电竞安全吗XFlash®FlatQUAD探测器和它的位置之间的SEM极片和样品导致一个不匹配的立体角，直接转化为更快的测量。一起思捷环球QUANTAX FlatQUAD是分析低束电流敏感样品或高地形样品的理想仪器。
的XFlash®FlatQUAD还可以将您的SEM或FIB转换为低压分析STEM，以更及时和更经济的方式以最高的空间和光谱分辨率分析电子透明样品。
要从电子透明样品中获得更多信息，请结合XFlash®装有eFlash EBSD探测器的FlatQUAD擎天柱头。
