QUANTAX FlatQUAD
x射线检测的最大效率
无与伦比的吞吐量
敏感的样品分析
Основныемоменты
1
纳米
空间分辨率
纳米尺度扫描电镜的分辨率
> 1.1
老
最高的立体角
立体角表示几何生成的x射线的收集效率
2400年
kcps
吞吐量
快4倍比传统EDS探测器
QUANTAX FlatQUAD——传统sdd达到限制
QUANTAX FlatQUAD EDS基于革命的微量分析系统XFlash®FlatQUAD。这个环形四通道硅漂移探测器之间插入SEM极片和样本,实现最大的立体角在EDS。结合思捷环球分析软件套件,QUANTAX FlatQUAD映射提供了无与伦比的性能,即使是最困难的样本。
- 极快的映射只使用温和的束电流
- 分析beam-sensitive材料在极低束电流(< 10 pA),如生物或半导体样品
- 调查样本的地形,避免阴影效果
- 分析纳米颗粒和纳米结构在低kV和最高的放大
- (如测量薄样品。TEM薄片)和其他标本扫描电镜x射线收益率较低。
Преимущества
最大限度地提高您的效率
独特的环形设计力量bob电竞安全吗XFlash®FlatQUAD探测器和SEM极片之间的立场和样本导致一个无与伦比的立体角直接转化为速度测量。一起思捷环球软件套件,QUANTAX FlatQUAD提供理想的仪器分析如在梁最低电流敏感的样品或样品高地形。
的XFlash®FlatQUAD也可以把你的扫描电镜或心房纤颤到低电压分析杆分析电子透明样品最高的空间和光谱分辨率更及时和有成本效益的方法。
获得更多的信息从你的电子透明样品,结合XFlash®FlatQUAD与eFlash EBSD探测器加装擎天柱头。
