QUANTAX FlatQUAD
x射线检测的最高效率
无与伦比的吞吐量
敏感样品分析
母亲是żniejsze informacje
1
纳米
空间分辨率
扫描电镜的纳米分辨率
> 1.1
老
最高立体角
立体角表示生成的x射线的几何收集效率
2400年
kcps
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍
QUANTAX平面四边形-传统的sdd达到限制的地方
QUANTAX FlatQUAD是基于EDS的革命性微量分析系统XFlash®FlatQUAD。环形四通道硅漂移检测器插入SEM极片和样品之间，在EDS中实现最大立体角。结合思捷环球分析软件套件，QUANTAX FlatQUAD提供无与伦比的映射性能，即使是最困难的样品。
- 极快的映射只使用适度的光束电流
- 在极低的光束电流(< 10pa)下分析光束敏感材料，例如生物或半导体样品
- 用地形调查样品，避免阴影效应
- 低千伏和最高倍率下纳米颗粒和纳米结构的分析
- 薄样品的测量(如:TEM薄片)和其他x射线产率低的样品。
Korzyści
最大化你的效率
布鲁克独特的环形设计bob电竞安全吗XFlash®FlatQUAD探测器及其在SEM极片和样品之间的位置导致了一个无与伦比的立体角，直接转化为更快的测量。连同思捷环球软件套件，QUANTAX FlatQUAD提供了理想的仪器来分析例如在最低波束电流或高地形样品的敏感样品。
的XFlash®FlatQUAD还可以将您的SEM或FIB转换为低压分析STEM，以更高的空间和光谱分辨率以更及时和更具成本效益的方式分析电子透明样品。
要从电子透明样品中获得更多信息，请结合XFlash®FlatQUAD与eFlash EBSD探测器改装擎天柱头。
