datenpräsentationsOptionen - nachbearbeitung

灵活的Darstellung von Messergebnissen

Der Analytiker Steht oft vor der Herausforderung,Daten So darzustellen,Dass Interseserenden Materialeigenschaften Leicht Zu Beurteilen Sind。DIE ESPRIT软件套件fürEbsdeinegroßeAnzahlvon von werkzeugen und funktionen zur Zur datendarstellung。

Teilmengenauswahl

Esprit Bietet DieMöglichkeit,Datenteilmengen Mit Unterschiedlichen Kriterien Zu Erstellen,Sodass Er Sich auf auf bestimmte funktionen konzentrieren kann。teilmengenauswahlenkönnenauf viele der auf dieser seite seite beschriebenen datenundpräsentationsOptionenangewendet werden:地图,直方图,pocogramme,polfiguren und Phasenlisten。TeilmengenKönnenMit Mehreren行动Verarbeitet Werden,Darunter Vereinigung,Subtraktion,Schnittmenge和Erweiterung。EsKönnenAuch Masken Angewendet Werden。

patternqualitäts-map eines edelstahls

图案Qualitäts-Map

dastatterqualitäts-map ist ein wichtiges仪器zur beurteilung derQualitäteinerseinn。die patternqualitätwirdvon akquisitionsparametern和probeneigenschaften wie z.b.Phasen,Grenzen,Gitterdehnung,Aber auch von derprobenpräparutionbeeinflusst。Die PatternQualität,也是DieSchärfedes Kikuchi-Patterns召集,Wird a jedem punkt des Maps Maps helligkeitskodiert,Um Ein Graustufenbild Zu Erzeugen。Diese BildersindNütundnütunsBasulfüriedieüberlagerungMit Anderen Map-typen,Da Sie Mikrostrukturelle Merkmale Merkmale Wie Korngrenzen Zeigen。

Patternqualitäts-Map Eines EdelstahlsüberlagertMit Phasen-Map:Ferrit(Rot),Austenit(Blau),Titannitrid(Grün),Titansulfid(Gelb)

Phasen-Map

Alle在Einem Farbkodierten Phasenverteilungs-Map Dargestellt中识别了Phasen Werden。

Hochauflösendepolfigur

polfiguren

polfiguren sind eine dergebräuchlichstendarstellungenfürorientierungsdaten。sie Zeigen Die derungen derausgewählten杆{hkl}polfiguren liefern wichtige信息信息,überdiestärkeeiner textur und auchdarüber,welche texturkomponenten占主导地位。EspritfürEbsderzeugt polfiguren and die die eentsprechende beugungskugel(在3d betrachtet中)hoher auherauflösund和mit mit beispielloser geschwindigkeit。

逆孢子

逆孢子(IPF)

währendpolfiguren kristallorientientierungen在bezug auf das koordinatensystems des tisches anzeigen,beschreiben die ipfs eine eine achse des pribentisches als kristallographyschen vektor。da es viele symmetrie-äquivalentevektoren gibt,werden die ipfs auf die symmetriespezifischenunterräumeReduziert(wie in der abbildung rechts dargestellt中)。

odf-raumvisualisierungfüreine auf einem silizium-wafer abgeschiedene goldschicht

Orientierungsverteilungsfunktion


2d-schnitte und 3d-visualisierung des odf-raums Unter Verwendung Moderner Open-Gl-Gl-TechnologieFürEineschnelle和Interaktive darstellung。

patternqualitäts-map eines edelstahlsüberlagertmit einem ipfx-map

IPF图

Eine IPF-KARTE KOMBINIERT DIE LOKAL ERKANTERIENTIERUNG MIT DER KRISTALLOGHISCHEN BESCHREIBUNG EINER EINZIGEN EINZIGEN REFERENZRICHTUNG。Die farbkodierung wird auf diereduziertegrößederipf skaliert。

谷物的平均不良导向图(GAM),模具“ akkumulation der verformung” innerhalb der armco-stahlkörnerin verschiedenen stadien des intitu-situ-zugversuchs zeigen;Die Farben ZeigenOrientierungsänderungenvon 0 BIS 7毕业。

欧拉图
Eine Euler-Karte Zeigt Die Erkannte Orientierung A jedem punkt anhand der euler-winkel,在rgb kodiert sind中死亡。

Kornanalyse
Die KornanalyseunterstütztDie ErkennungvonKörnernMithilfe von fehlorientierungs- undgrößenkriterien,∑3GrenzenKönnenbei bei bedarf bedarf ignoriert Werden。KörnerKönnen以Bezug auf形式,Größe和Hauptachsenneigung(BeiLänglichenKörnern)Analysiert Werden。ZufälligenFarben Erstellt Werden的Ermittelte Korn-MapsKönnenMitDenKörnern。

Ebenfalls焓Sind Funktionen Zur fehlorientierungs-verteilungsanalyse。Es Kann Sowohl Ein fehlorientierungsprofil entlang einer linie als auch ein fehlorientierungs-verteilungshistogrammberechnet werden。fehlorientierungs-mapsKönnenals谷物平均不适图图(GAM),内核平均不良取向图(KAM)和参考不良指导图dargestellt Werden。

Texturkomponenten
EspritfürEbsdunterstütztieeStellung von texturkomponenten-mapsundermöglichtdie dies dection von texturkomponenten und deren verbreitung aus einer“理想” ausrichtung mit einer einer einer einer einer einer regenbogenpalette。Diese funktion kann auchfürdie erestellung von teilmengen verwendet Werden。