失效分析与材料表征
一个完整的纳米FTIR，纳米化学成像和材料表征平台
工业公司中的故障分析和材料表征小组专注于解决问题，以帮助改进工艺开发和解决与工艺相关的问题，以帮助他们的组织节省成本和增加收入。
的nanoIR3-s提供了完整的纳米级FTIR、化学成像和材料表征平台。它结合了两种互补的纳米尺度红外技术，AFM-IR和散射SNOM，再加上基于afm的材料属性映射。该系统高效可靠，可在一天内为您提供高效数据。bob平台靠谱吗应用程序包括:
- Nano-organic污染物
- LowK电介质
- 半导体材料
- 数据存储介质和幻灯片
有机纳米污染物是半导体和数据存储公司的一个严重缺陷问题，目前的表征技术能力有限。的nanoIR3该系统可获得空间分辨率低至10 nm的红外光谱，从而能够测量此类缺陷和其他半导体材料。
使用Bruker的专利AFM-IR技术生成的光谱与传统的bob电竞安全吗FTIR光谱直接相关，因此与标准FTIR库相当。除了化学分析，nanoIR3还提供了补充的机械、电、热和结构性质信息，具有纳米尺度的空间分辨率。
