Espectroscopia infrarroja a Nanoescala

Análisisde Fallos yCaracterizaciónde Materiales

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Los grupos de análisis de fallas y caracterización de materiales dentro de las empresas industriales se centran en resolver problemas para ayudar a mejorar el desarrollo de procesos y resolver problemas relacionados con los procesos para ayudar a sus organizaciones a ahorrar costos y aumentar los ingresos.

Elnanoir3-sProporciona una plataforma plote de ftir a nanoescala,imágenesquímicasycaracterizaciónde材料。combina dostécnicasreplementarias de infrarrojos a nanoescala,afm-ir y snom y snom dedispersiónjuntocon el Mapeo de pripedes de Materiales de Materiales de Materiales basados en afm。El Sistema es Productivo y Condivo,Proporciona datos Productivos enundía。Las Aplicaciones包含:

  • 污染物纳米 - 奥尔加尼科斯
  • DieléctricosLowk
  • 材料半导体
  • Medios de datos y diapositivas

Los纳米牙糖剂orgánicosson Un Grave deardividad para las empresas de samiconductores y almacenamiento datos datos datos date lastécnicasdecaracterización实际tienen tienen tienen tienen tienenapacidades ligitadas。El Sistema纳米3Adquiere espectros ir a esloruciones espaciales de hasta 10 nm,lo que persite lamedicióndedichos Dichos decectos y otros材料半导体。

Los Espectros Generados UtilizandolaTécnicaAfm-ir Patentada de Brubob电竞安全吗ker Se Correlacionan Directamente con los Espectros ftir ftir ftir tanto tanto son比较las bibliotecas ftir ftirestándar。AdemásDelAnálisisQuímico,nanoir3 Proporcionainformaciónrepresmentaria de PriveiedadesMecánicas,Eléctricas,térmicasy centructurals yconsoluciónPosoluciónPesoluciónPesoluciónPesoluciounEspacial a Nanoescala。